葡萄在(zai)貯運(yùn)過(guò)程中(zhong)由于受到溫度(du)波動(dòng)和(he)機(jī)械振動(dòng)(dong)作用，經(jīng)常(chang)出現(xiàn)大(da)量損(sun)耗的(de)問(wèn)題。如何解決(jue)貯運(yùn)過(guò)程中(zhong)葡萄(tao)的損耗問(wèn)(wen)題是當(dāng)(dang)下重(zhong)要的研究課(ke)題之一(yi)。

通過(guò)用質(zhì)構(gòu)儀(yi)對(duì)貯運(yùn)過(guò)程(cheng)中葡萄(tao)品質(zhì)的測(cè)定(ding)，以期為(wei)葡萄貯運(yùn)條(tiao)件的設(shè)(she)置提供一定(ding)的參考與依(yi)據(jù)。

1、穿刺測(cè)定

儀器：Universal TA質(zhì)構(gòu)(gou)儀

探頭：P/NP針型(xing)探頭

將葡萄顆粒置(zhi)于針型探頭(tou)下進(jìn)行測(cè)(ce)試，每個(gè)品(pin)種取15個(gè)(ge)，后算(suan)平均(jun)值。測(cè)試條件設(shè)(she)置如下

測(cè)試(shi)模式(shi)：穿刺

測(cè)試前速度：0.5mm/s

測(cè)試速度(du)：0.5mm/s

測(cè)試后速度：5mm/s

觸發(fā)力：5g

目標(biāo)模式：形變(bian) ?50%

測(cè)定(ding)結(jié)果：可以用于(yu)測(cè)定(ding)葡萄(tao)表皮的穿刺(ci)強(qiáng)度

2、全質(zhì)(zhi)構(gòu)TPA測(cè)定

儀器(qi)：Universal TA質(zhì)構(gòu)儀(yi)

探頭(tou)：P/50柱型(xing)探頭

將葡萄顆(ke)粒置于柱型(xing)探頭下進(jìn)行測(cè)(ce)試，每個(gè)(ge)品種取15個(gè)，后算(suan)平均值(zhi)。測(cè)試條件(jian)設(shè)置如(ru)下

測(cè)試(shi)模式：壓(ya)縮

測(cè)試前(qian)速度：1mm/s

測(cè)試速度(du)：1mm/s

測(cè)試后速度(du)：5mm/s

觸發(fā)力：8g

目標(biāo)模(mo)式：形變 30%

兩次下(xia)壓間隔時(shí)間(jian)：3s

測(cè)定結(jié)果：可以用于(yu)測(cè)定葡萄(tao)的硬度、彈(dan)性、回復(fù)性、內(nèi)(nei)聚性(xing)和咀嚼性(xing)等指標(biāo)。