葡萄在貯運(yùn)過(guo)程中由于(yu)受到溫度(du)波動(dòng)和機(jī)械振(zhen)動(dòng)作用(yong)，經(jīng)常出(chu)現(xiàn)大量(liang)損耗的問題。如(ru)何解決貯(zhu)運(yùn)過程中葡(pu)萄的(de)損耗問(wen)題是當(dāng)下重(zhong)要的研究(jiu)課題之一。

通過用質(zhì)構(gòu)(gou)儀對(duì)貯(zhu)運(yùn)過程中葡(pu)萄品質(zhì)(zhi)的測(cè)(ce)定，以期為(wei)葡萄貯運(yùn)(yun)條件的設(shè)(she)置提供(gong)一定的參考(kao)與依據(jù)。

1、穿刺測(cè)定

儀器(qi)：Universal TA質(zhì)構(gòu)儀

探頭(tou)：P/NP針型探頭(tou)

將葡(pu)萄顆粒置于(yu)針型探(tan)頭下(xia)進(jìn)行測(cè)試(shi)，每個(gè)品種(zhong)取15個(gè)，后算平(ping)均值。測(cè)(ce)試條件設(shè)置(zhi)如下

測(cè)試(shi)模式：穿(chuan)刺

測(cè)試前速(su)度：0.5mm/s

測(cè)試速度(du)：0.5mm/s

測(cè)試后速度：5mm/s

觸發(fā)力(li)：5g

目標(biāo)模(mo)式：形(xing)變 ?50%

測(cè)定結(jié)(jie)果：可以用于(yu)測(cè)定葡(pu)萄表皮(pi)的穿刺(ci)強(qiáng)度

2、全質(zhì)構(gòu)TPA測(cè)定

儀器：Universal TA質(zhì)構(gòu)儀(yi)

探頭(tou)：P/50柱型探頭

將葡萄(tao)顆粒置于柱(zhu)型探頭下進(jìn)行(xing)測(cè)試(shi)，每個(gè)(ge)品種取15個(gè)，后算(suan)平均值。測(cè)試(shi)條件(jian)設(shè)置如下

測(cè)試模(mo)式：壓(ya)縮

測(cè)試(shi)前速度(du)：1mm/s

測(cè)試(shi)速度：1mm/s

測(cè)試(shi)后速度：5mm/s

觸發(fā)力：8g

目標(biāo)(biao)模式：形(xing)變 30%

兩次下壓(ya)間隔時(shí)(shi)間：3s

測(cè)定結(jié)果(guo)：可以用于測(cè)定(ding)葡萄的硬度(du)、彈性、回復(fù)性、內(nèi)(nei)聚性和咀(ju)嚼性等指(zhi)標(biāo)。