葡萄在(zai)貯運(yùn)過(guò)程(cheng)中由于受(shou)到溫度波動(dòng)和(he)機(jī)械(xie)振動(dòng)(dong)作用(yong)，經(jīng)常出現(xiàn)大量(liang)損耗的問(wèn)題(ti)。如何(he)解決貯(zhu)運(yùn)過(guò)程中葡(pu)萄的損耗問(wèn)(wen)題是當(dāng)(dang)下重要的(de)研究課題(ti)之一。

通過(guò)用(yong)質(zhì)構(gòu)儀(yi)對(duì)貯(zhu)運(yùn)過(guò)程(cheng)中葡萄(tao)品質(zhì)的測(cè)(ce)定，以期(qi)為葡萄(tao)貯運(yùn)條(tiao)件的設(shè)置(zhi)提供一定的(de)參考(kao)與依據(jù)。

1、穿刺(ci)測(cè)定

儀器：Universal TA質(zhì)構(gòu)儀(yi)

探頭(tou)：P/NP針型探頭

將葡(pu)萄顆粒(li)置于(yu)針型探頭下進(jìn)(jin)行測(cè)試，每個(gè)品(pin)種取15個(gè)，后算(suan)平均值(zhi)。測(cè)試條件設(shè)置(zhi)如下

測(cè)試(shi)模式：穿刺

測(cè)試前速(su)度：0.5mm/s

測(cè)試(shi)速度：0.5mm/s

測(cè)試后(hou)速度：5mm/s

觸發(fā)力：5g

目標(biāo)(biao)模式：形變(bian) ?50%

測(cè)定結(jié)果：可以用于(yu)測(cè)定葡萄表皮(pi)的穿刺強(qiáng)(qiang)度

2、全質(zhì)構(gòu)TPA測(cè)定

儀器(qi)：Universal TA質(zhì)構(gòu)儀(yi)

探頭：P/50柱型探(tan)頭

將葡萄顆(ke)粒置(zhi)于柱型探(tan)頭下進(jìn)行測(cè)試(shi)，每個(gè)(ge)品種取(qu)15個(gè)，后算平均值(zhi)。測(cè)試(shi)條件設(shè)置如(ru)下

測(cè)試模(mo)式：壓縮

測(cè)試前速(su)度：1mm/s

測(cè)試速度(du)：1mm/s

測(cè)試后速度(du)：5mm/s

觸發(fā)力：8g

目標(biāo)模式：形(xing)變 30%

兩次下(xia)壓間隔(ge)時(shí)間：3s

測(cè)定結(jié)(jie)果：可以用于(yu)測(cè)定葡萄的硬(ying)度、彈性、回復(fù)性(xing)、內(nèi)聚性和(he)咀嚼性(xing)等指標(biāo)。