葡萄在貯運(yùn)過(guò)(guo)程中(zhong)由于受到(dao)溫度(du)波動(dòng)和機(jī)械(xie)振動(dòng)作用，經(jīng)常(chang)出現(xiàn)(xian)大量(liang)損耗的問(wèn)題(ti)。如何解(jie)決貯運(yùn)過(guò)(guo)程中葡萄的損(sun)耗問(wèn)題是(shi)當(dāng)下(xia)重要的研究課(ke)題之一。

通過(guò)用質(zhì)構(gòu)(gou)儀對(duì)貯(zhu)運(yùn)過(guò)程中(zhong)葡萄品質(zhì)的測(cè)(ce)定，以(yi)期為葡萄貯(zhu)運(yùn)條件的(de)設(shè)置提供(gong)一定的參(can)考與依(yi)據(jù)。

1、穿刺測(cè)定

儀器(qi)：Universal TA質(zhì)構(gòu)儀(yi)

探頭：P/NP針(zhen)型探頭(tou)

將葡萄顆粒置(zhi)于針(zhen)型探(tan)頭下進(jìn)行測(cè)試(shi)，每個(gè)品種(zhong)取15個(gè)，后(hou)算平均值(zhi)。測(cè)試條件(jian)設(shè)置如下(xia)

測(cè)試模式(shi)：穿刺

測(cè)試(shi)前速度：0.5mm/s

測(cè)試速度(du)：0.5mm/s

測(cè)試(shi)后速度：5mm/s

觸發(fā)力：5g

目標(biāo)模式(shi)：形變 ?50%

測(cè)定結(jié)果(guo)：可以用于測(cè)(ce)定葡萄(tao)表皮的穿(chuan)刺強(qiáng)度(du)

2、全質(zhì)構(gòu)TPA測(cè)定

儀器(qi)：Universal TA質(zhì)構(gòu)儀

探頭：P/50柱(zhu)型探頭

將葡萄(tao)顆粒置(zhi)于柱型探(tan)頭下進(jìn)行測(cè)試(shi)，每個(gè)(ge)品種取15個(gè)，后(hou)算平均(jun)值。測(cè)試條件設(shè)(she)置如下

測(cè)試模式(shi)：壓縮

測(cè)試前速度(du)：1mm/s

測(cè)試速度(du)：1mm/s

測(cè)試后速(su)度：5mm/s

觸發(fā)力：8g

目標(biāo)模式：形變(bian) 30%

兩次下壓間(jian)隔時(shí)間(jian)：3s

測(cè)定(ding)結(jié)果：可以用于(yu)測(cè)定(ding)葡萄的(de)硬度、彈(dan)性、回復(fù)性、內(nèi)(nei)聚性和咀(ju)嚼性等(deng)指標(biāo)。