葡萄在貯運(yùn)(yun)過(guò)程中(zhong)由于受到(dao)溫度波動(dòng)(dong)和機(jī)械振(zhen)動(dòng)作用，經(jīng)常(chang)出現(xiàn)(xian)大量損耗(hao)的問(wèn)題。如(ru)何解決貯(zhu)運(yùn)過(guò)程中葡萄(tao)的損耗(hao)問(wèn)題(ti)是當(dāng)下(xia)重要的研究課(ke)題之一。

通過(guò)用質(zhì)構(gòu)儀(yi)對(duì)貯運(yùn)(yun)過(guò)程中葡(pu)萄品(pin)質(zhì)的測(cè)定，以期(qi)為葡萄(tao)貯運(yùn)條件的設(shè)(she)置提供(gong)一定的參考與(yu)依據(jù)。

1、穿刺(ci)測(cè)定

儀器(qi)：Universal TA質(zhì)構(gòu)儀(yi)

探頭：P/NP針型(xing)探頭

將葡萄顆粒置(zhi)于針型探頭下(xia)進(jìn)行(xing)測(cè)試(shi)，每個(gè)(ge)品種(zhong)取15個(gè)，后算(suan)平均值(zhi)。測(cè)試條(tiao)件設(shè)置如下

測(cè)試模(mo)式：穿刺(ci)

測(cè)試前速度：0.5mm/s

測(cè)試(shi)速度：0.5mm/s

測(cè)試后速度(du)：5mm/s

觸發(fā)力：5g

目標(biāo)(biao)模式(shi)：形變 ?50%

測(cè)定結(jié)果：可以(yi)用于測(cè)定葡(pu)萄表皮(pi)的穿刺(ci)強(qiáng)度

2、全質(zhì)構(gòu)TPA測(cè)定

儀器：Universal TA質(zhì)構(gòu)儀(yi)

探頭：P/50柱型探(tan)頭

將葡(pu)萄顆粒置于(yu)柱型探頭(tou)下進(jìn)行測(cè)(ce)試，每(mei)個(gè)品種取15個(gè)(ge)，后算平均值(zhi)。測(cè)試條件設(shè)(she)置如下

測(cè)試模式：壓縮(suo)

測(cè)試前速(su)度：1mm/s

測(cè)試(shi)速度(du)：1mm/s

測(cè)試后速(su)度：5mm/s

觸發(fā)力：8g

目標(biāo)模(mo)式：形變 30%

兩次下壓間隔(ge)時(shí)間：3s

測(cè)定(ding)結(jié)果：可以用于測(cè)(ce)定葡萄的(de)硬度、彈性、回復(fù)(fu)性、內(nèi)聚(ju)性和咀(ju)嚼性(xing)等指標(biāo)(biao)。