葡萄在(zai)貯運(yùn)過(guò)程中(zhong)由于受(shou)到溫度波動(dòng)和(he)機(jī)械(xie)振動(dòng)作(zuo)用，經(jīng)常(chang)出現(xiàn)大(da)量損(sun)耗的(de)問題。如何(he)解決貯運(yùn)過(guò)程(cheng)中葡萄(tao)的損耗問題是(shi)當(dāng)下(xia)重要的研(yan)究課題(ti)之一(yi)。

通過(guò)用質(zhì)構(gòu)儀(yi)對(duì)貯(zhu)運(yùn)過(guò)程中葡萄(tao)品質(zhì)的(de)測(cè)定(ding)，以期(qi)為葡萄(tao)貯運(yùn)條件的設(shè)(she)置提供一(yi)定的參考與(yu)依據(jù)。

1、穿刺測(cè)定

儀器：Universal TA質(zhì)構(gòu)儀

探頭：P/NP針(zhen)型探頭

將葡萄顆粒置(zhi)于針型探(tan)頭下進(jìn)行(xing)測(cè)試，每個(gè)品(pin)種取15個(gè)，后(hou)算平(ping)均值。測(cè)試條件(jian)設(shè)置如下

測(cè)試模式：穿(chuan)刺

測(cè)試(shi)前速(su)度：0.5mm/s

測(cè)試速度：0.5mm/s

測(cè)試后(hou)速度：5mm/s

觸發(fā)(fa)力：5g

目標(biāo)(biao)模式(shi)：形變 ?50%

測(cè)定結(jié)果(guo)：可以用(yong)于測(cè)(ce)定葡萄表皮(pi)的穿(chuan)刺強(qiáng)度

2、全質(zhì)構(gòu)TPA測(cè)定

儀器：Universal TA質(zhì)(zhi)構(gòu)儀(yi)

探頭(tou)：P/50柱型探頭

將葡(pu)萄顆粒置(zhi)于柱型(xing)探頭下進(jìn)行(xing)測(cè)試，每個(gè)品(pin)種取15個(gè)(ge)，后算平均值。測(cè)(ce)試條件設(shè)置(zhi)如下

測(cè)試(shi)模式：壓(ya)縮

測(cè)試前速度：1mm/s

測(cè)試速度：1mm/s

測(cè)試(shi)后速度(du)：5mm/s

觸發(fā)力：8g

目標(biāo)模式(shi)：形變 30%

兩次(ci)下壓間隔時(shí)(shi)間：3s

測(cè)定結(jié)果：可以(yi)用于(yu)測(cè)定葡(pu)萄的硬(ying)度、彈性、回(hui)復(fù)性、內(nèi)聚(ju)性和咀嚼(jue)性等(deng)指標(biāo)(biao)。