技術(shù)文章(zhang)
Technical articles當前位置:首頁
技術(shù)文章(zhang)
質(zhì)構(gòu)儀(yi)測定貯運期(qi)間葡萄品質(zhì)(zhi)變化
葡萄在貯運過(guo)程中由(you)于受到溫度波(bo)動和機械振動(dong)作用,經(jīng)常出(chu)現(xiàn)大量損(sun)耗的問題(ti)。如何解(jie)決貯運(yun)過程中葡萄(tao)的損耗問題(ti)是當(dang)下重要的(de)研究課題之一(yi)。
通過(guo)用質(zhì)構(gòu)儀對貯(zhu)運過(guo)程中葡(pu)萄品(pin)質(zhì)的(de)測定,以期為葡(pu)萄貯(zhu)運條件(jian)的設(shè)置(zhi)提供一(yi)定的參考(kao)與依據(jù)(ju)。
1、穿刺測定
儀器:Universal TA質(zhì)構(gòu)儀(yi)
探頭:P/NP針型探(tan)頭
將葡萄(tao)顆粒置于(yu)針型探頭下(xia)進行(xing)測試,每個品種(zhong)取15個,后算(suan)平均值。測(ce)試條(tiao)件設(shè)(she)置如下
測試模式:穿(chuan)刺
測試前速度(du):0.5mm/s
測試(shi)速度:0.5mm/s
測試后速度(du):5mm/s
觸發(fā)力:5g
目標(biao)模式:形變 ?50%
測定結(jié)(jie)果:可以用于(yu)測定葡萄(tao)表皮的穿刺強(qiang)度
2、全質(zhì)(zhi)構(gòu)TPA測定
儀器:Universal TA質(zhì)構(gòu)儀(yi)
探頭(tou):P/50柱型探頭
將葡萄顆(ke)粒置于(yu)柱型探頭(tou)下進行測(ce)試,每個(ge)品種取15個,后(hou)算平均(jun)值。測試條件(jian)設(shè)置如(ru)下
測試模(mo)式:壓縮
測試前速度:1mm/s
測試速度:1mm/s
測試后速度:5mm/s
觸發(fā)(fa)力:8g
目標模式:形(xing)變 30%
兩次(ci)下壓間隔(ge)時間(jian):3s
測定結(jié)(jie)果:可以用于測(ce)定葡萄的(de)硬度、彈性、回(hui)復性、內(nèi)聚(ju)性和咀嚼(jue)性等指(zhi)標。