技術(shù)文章
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技術(shù)文章(zhang)
質(zhì)構(gòu)儀(yi)測定貯運(yùn)期間(jian)葡萄品質(zhì)(zhi)變化
葡萄在(zai)貯運(yùn)過(guo)程中(zhong)由于受到溫(wen)度波(bo)動和機(jī)械振動(dong)作用(yong),經(jīng)常出現(xiàn)大量(liang)損耗的問題(ti)。如何解決(jue)貯運(yùn)過程(cheng)中葡萄(tao)的損耗問題是(shi)當(dāng)下重要(yao)的研究課題之(zhi)一。
通過用質(zhì)構(gòu)(gou)儀對貯運(yùn)(yun)過程(cheng)中葡萄品質(zhì)的(de)測定,以期為葡(pu)萄貯(zhu)運(yùn)條(tiao)件的設(shè)置提供(gong)一定(ding)的參考與依(yi)據(jù)。
1、穿刺測定
儀器(qi):Universal TA質(zhì)構(gòu)儀(yi)
探頭:P/NP針型探(tan)頭
將葡萄顆粒置(zhi)于針型探頭下(xia)進(jìn)行測試,每(mei)個品種(zhong)取15個(ge),后算平均值(zhi)。測試條件設(shè)(she)置如下
測試模式:穿刺(ci)
測試前速度:0.5mm/s
測試(shi)速度(du):0.5mm/s
測試后(hou)速度:5mm/s
觸發(fā)力:5g
目標(biāo)模式:形變(bian) ?50%
測定結(jié)果:可以用于(yu)測定葡萄(tao)表皮的穿刺(ci)強(qiáng)度
2、全質(zhì)構(gòu)(gou)TPA測定
儀器:Universal TA質(zhì)構(gòu)儀(yi)
探頭:P/50柱型探(tan)頭
將葡萄(tao)顆粒置(zhi)于柱型(xing)探頭下進(jìn)行(xing)測試,每個(ge)品種取(qu)15個,后算平(ping)均值。測試條件(jian)設(shè)置如下(xia)
測試(shi)模式:壓(ya)縮
測試前速(su)度:1mm/s
測試(shi)速度:1mm/s
測試后(hou)速度:5mm/s
觸發(fā)(fa)力:8g
目標(biāo)模式:形變(bian) 30%
兩次下(xia)壓間隔(ge)時間(jian):3s
測定結(jié)果:可以用(yong)于測定葡萄的(de)硬度、彈性、回復(fù)(fu)性、內(nèi)(nei)聚性和咀(ju)嚼性等指(zhi)標(biāo)。