葡萄在貯(zhu)運(yùn)過(guò)程中(zhong)由于(yu)受到溫度(du)波動(dòng)和(he)機(jī)械(xie)振動(dòng)作(zuo)用，經(jīng)常出現(xiàn)(xian)大量損耗(hao)的問(wèn)題。如(ru)何解決貯運(yùn)過(guò)(guo)程中葡萄的(de)損耗(hao)問(wèn)題是當(dāng)下(xia)重要的研究(jiu)課題之(zhi)一。

通過(guò)(guo)用質(zhì)構(gòu)儀(yi)對(duì)貯運(yùn)過(guò)程中(zhong)葡萄(tao)品質(zhì)(zhi)的測(cè)定，以期為(wei)葡萄貯運(yùn)(yun)條件(jian)的設(shè)置(zhi)提供一定的參(can)考與依據(jù)。

1、穿刺測(cè)(ce)定

儀器(qi)：Universal TA質(zhì)構(gòu)儀

探頭：P/NP針(zhen)型探頭

將葡萄顆粒置(zhi)于針型探頭(tou)下進(jìn)(jin)行測(cè)試，每(mei)個(gè)品種(zhong)取15個(gè)(ge)，后算平均(jun)值。測(cè)(ce)試條(tiao)件設(shè)置如下(xia)

測(cè)試模式：穿刺(ci)

測(cè)試前(qian)速度(du)：0.5mm/s

測(cè)試速度(du)：0.5mm/s

測(cè)試后(hou)速度(du)：5mm/s

觸發(fā)力：5g

目標(biāo)模(mo)式：形變 ?50%

測(cè)定結(jié)果：可以用于(yu)測(cè)定葡萄表皮(pi)的穿刺強(qiáng)度(du)

2、全質(zhì)構(gòu)(gou)TPA測(cè)定

儀器：Universal TA質(zhì)(zhi)構(gòu)儀

探頭(tou)：P/50柱型探頭(tou)

將葡萄顆粒置(zhi)于柱型探(tan)頭下進(jìn)行測(cè)試(shi)，每個(gè)(ge)品種取(qu)15個(gè)，后算平均(jun)值。測(cè)試條(tiao)件設(shè)置如下

測(cè)試模式：壓(ya)縮

測(cè)試前速(su)度：1mm/s

測(cè)試速度：1mm/s

測(cè)試后速度：5mm/s

觸發(fā)力：8g

目標(biāo)(biao)模式：形變(bian) 30%

兩次(ci)下壓間(jian)隔時(shí)(shi)間：3s

測(cè)定結(jié)(jie)果：可以用(yong)于測(cè)定葡萄(tao)的硬度、彈性(xing)、回復(fù)性(xing)、內(nèi)聚性和咀嚼(jue)性等指標(biāo)(biao)。