葡萄(tao)在貯運過程(cheng)中由于受到溫(wen)度波動和機(ji)械振動作(zuo)用，經常出(chu)現大(da)量損耗(hao)的問題。如何(he)解決貯運(yun)過程中葡(pu)萄的損耗(hao)問題是當下(xia)重要的(de)研究課題(ti)之一。

通過用質構儀(yi)對貯運過程中(zhong)葡萄品質的(de)測定，以(yi)期為葡萄貯(zhu)運條件的設置(zhi)提供一(yi)定的參考與依(yi)據。

1、穿刺測定

儀器：Universal TA質構儀(yi)

探頭：P/NP針(zhen)型探頭

將葡萄(tao)顆粒置于針(zhen)型探頭下(xia)進行測(ce)試，每(mei)個品種取(qu)15個，后算平(ping)均值。測試(shi)條件設置(zhi)如下

測試模式：穿(chuan)刺

測試前速度：0.5mm/s

測試速度：0.5mm/s

測試后速度(du)：5mm/s

觸發(fā)力(li)：5g

目標模式：形變(bian) ?50%

測定結果：可以用于(yu)測定(ding)葡萄表皮的穿(chuan)刺強度(du)

2、全質構TPA測定

儀器：Universal TA質(zhi)構儀

探頭：P/50柱型探(tan)頭

將葡萄顆粒(li)置于柱型(xing)探頭(tou)下進行(xing)測試，每個品(pin)種取15個(ge)，后算(suan)平均值。測(ce)試條(tiao)件設置如下

測試模式(shi)：壓縮

測試前速度(du)：1mm/s

測試速度：1mm/s

測試后速度(du)：5mm/s

觸發(fā)(fa)力：8g

目標模式：形變(bian) 30%

兩次下壓(ya)間隔(ge)時間：3s

測定(ding)結果：可以(yi)用于(yu)測定葡萄的硬(ying)度、彈性、回復性(xing)、內聚性和咀(ju)嚼性(xing)等指(zhi)標。