技術(shù)文(wen)章
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技術(shù)文章(zhang)
質(zhì)構(gòu)儀(yi)測定貯(zhu)運期間葡萄(tao)品質(zhì)變化
葡萄在貯(zhu)運過程中(zhong)由于受到(dao)溫度(du)波動(dong)和機械振(zhen)動作(zuo)用,經(jīng)常(chang)出現(xiàn)(xian)大量損耗的問(wen)題。如何解決貯(zhu)運過(guo)程中葡萄的(de)損耗問題(ti)是當(dāng)下重要的(de)研究課題之(zhi)一。
通過用(yong)質(zhì)構(gòu)儀對(dui)貯運過程中(zhong)葡萄(tao)品質(zhì)的測定(ding),以期(qi)為葡萄貯運條(tiao)件的設(shè)置(zhi)提供一(yi)定的參考(kao)與依(yi)據(jù)。
1、穿刺測定
儀器(qi):Universal TA質(zhì)構(gòu)儀
探頭:P/NP針(zhen)型探頭(tou)
將葡萄顆(ke)粒置于針(zhen)型探頭下(xia)進(jìn)行測(ce)試,每(mei)個品種取15個,后(hou)算平(ping)均值。測試(shi)條件設(shè)(she)置如下(xia)
測試模式(shi):穿刺
測試前速度(du):0.5mm/s
測試速度(du):0.5mm/s
測試后(hou)速度:5mm/s
觸發(fā)力:5g
目標(biāo)模(mo)式:形變 ?50%
測定結(jié)果:可以用(yong)于測定(ding)葡萄表皮的(de)穿刺(ci)強度
2、全質(zhì)構(gòu)TPA測定
儀器:Universal TA質(zhì)構(gòu)(gou)儀
探頭:P/50柱型探(tan)頭
將葡(pu)萄顆(ke)粒置于柱(zhu)型探頭下(xia)進(jìn)行測試,每個(ge)品種取15個(ge),后算平(ping)均值。測試條件(jian)設(shè)置如下
測試模(mo)式:壓縮
測試(shi)前速度:1mm/s
測試速(su)度:1mm/s
測試后速度:5mm/s
觸發(fā)力(li):8g
目標(biāo)模式(shi):形變(bian) 30%
兩次(ci)下壓間隔(ge)時間:3s
測定結(jié)(jie)果:可以用于測(ce)定葡萄(tao)的硬(ying)度、彈(dan)性、回(hui)復(fù)性、內(nèi)聚性和(he)咀嚼(jue)性等指標(biāo)。