技術(shù)文(wen)章
Technical articles當(dāng)前位置:首頁
技術(shù)文(wen)章
質(zhì)構(gòu)儀測定(ding)貯運期間葡萄(tao)品質(zhì)變化
葡萄在(zai)貯運(yun)過程中(zhong)由于受(shou)到溫度波(bo)動和機械(xie)振動作用,經(jīng)(jing)常出現(xiàn)大(da)量損耗的(de)問題。如何解決(jue)貯運過(guo)程中(zhong)葡萄的損耗問(wen)題是(shi)當(dāng)下重(zhong)要的研究(jiu)課題之一。
通過用質(zhì)(zhi)構(gòu)儀對(dui)貯運過(guo)程中(zhong)葡萄品(pin)質(zhì)的測定,以期(qi)為葡萄貯(zhu)運條件(jian)的設(shè)置提供(gong)一定的參(can)考與依(yi)據(jù)。
1、穿刺測(ce)定
儀器(qi):Universal TA質(zhì)構(gòu)儀
探頭:P/NP針型探頭(tou)
將葡(pu)萄顆粒置于(yu)針型探(tan)頭下進(jìn)行測(ce)試,每個品(pin)種取(qu)15個,后算平(ping)均值。測(ce)試條件(jian)設(shè)置如下(xia)
測試模(mo)式:穿刺
測試前速(su)度:0.5mm/s
測試速度:0.5mm/s
測試后速(su)度:5mm/s
觸發(fā)(fa)力:5g
目標(biāo)模(mo)式:形(xing)變 ?50%
測定結(jié)果:可以(yi)用于測定葡(pu)萄表皮(pi)的穿刺強度
2、全質(zhì)(zhi)構(gòu)TPA測定
儀器:Universal TA質(zhì)構(gòu)儀
探頭(tou):P/50柱型探頭
將葡萄顆粒(li)置于柱型探(tan)頭下進(jìn)行測(ce)試,每個品(pin)種取15個(ge),后算平均(jun)值。測(ce)試條件(jian)設(shè)置如下(xia)
測試模式(shi):壓縮
測試前速度:1mm/s
測試速度:1mm/s
測試后(hou)速度:5mm/s
觸發(fā)力:8g
目標(biāo)模式:形變(bian) 30%
兩次(ci)下壓(ya)間隔(ge)時間:3s
測定(ding)結(jié)果:可以用(yong)于測定葡萄的(de)硬度、彈(dan)性、回復(fù)性、內(nèi)(nei)聚性和咀嚼性(xing)等指(zhi)標(biāo)。