葡萄在(zai)貯運過(guo)程中由于(yu)受到溫(wen)度波動和機械(xie)振動作用，經(jīng)常(chang)出現(xiàn)大量損耗(hao)的問題。如(ru)何解決貯(zhu)運過程中葡萄(tao)的損耗問(wen)題是當(dāng)下(xia)重要的研究課(ke)題之一(yi)。

通過用(yong)質(zhì)構(gòu)儀對貯運(yun)過程中(zhong)葡萄品質(zhì)(zhi)的測定，以(yi)期為葡萄(tao)貯運條(tiao)件的設(shè)(she)置提供一定的(de)參考(kao)與依(yi)據(jù)。

1、穿刺(ci)測定

儀器：Universal TA質(zhì)(zhi)構(gòu)儀

探頭：P/NP針型探頭(tou)

將葡(pu)萄顆(ke)粒置于針型探(tan)頭下進行測(ce)試，每個品(pin)種取15個(ge)，后算平均(jun)值。測試條件(jian)設(shè)置如(ru)下

測試模式：穿刺(ci)

測試(shi)前速度(du)：0.5mm/s

測試速(su)度：0.5mm/s

測試后(hou)速度(du)：5mm/s

觸發(fā)力：5g

目標(biāo)模式：形變(bian) ?50%

測定結(jié)果(guo)：可以用于測(ce)定葡萄表(biao)皮的(de)穿刺(ci)強度

2、全質(zhì)構(gòu)TPA測定

儀器：Universal TA質(zhì)(zhi)構(gòu)儀

探頭：P/50柱(zhu)型探(tan)頭

將葡萄顆粒(li)置于柱型探頭(tou)下進行測試，每(mei)個品種取15個(ge)，后算平均(jun)值。測試條(tiao)件設(shè)置如下(xia)

測試模式(shi)：壓縮(suo)

測試前速度(du)：1mm/s

測試速度(du)：1mm/s

測試后速度：5mm/s

觸發(fā)力：8g

目標(biāo)模式(shi)：形變 30%

兩次下(xia)壓間隔(ge)時間：3s

測定結(jié)果：可以用(yong)于測定葡萄(tao)的硬度、彈(dan)性、回復(fù)性、內(nèi)(nei)聚性和咀(ju)嚼性等指標(biāo)(biao)。