（1）餅干(gan)是什么樣(yang)的餅干(gan)？有沒有(you)脆性(xing)？

對于一些(xie)很厚(hou)又較軟的餅干(gan)，有硬(ying)度，但是相對來(lai)說脆(cui)性很小或(huo)者沒(mei)有脆性。而(er)很薄又脆的(de)酥性餅干(gan)，相對而言才有(you)硬度和脆性(xing)的說法。

（2）測餅干的硬度(du)和脆性應(ying)該選用(yong)哪些配件(jian)？

通常應該選用(yong)2mm的柱形(xing)探頭(tou)和帶孔的(de)平臺，柱形探頭(tou)穿刺完(wan)樣品之(zhi)后從平臺的(de)孔中穿(chuan)出，保證樣(yang)品穿刺(ci)*而不會對(dui)探頭有損(sun)壞。

（3）測試條(tiao)件如何(he)選擇？ ? ?

測試前速度不(bu)宜太快，太快容(rong)易造(zao)成延遲(chi)啟動分析，通常(chang)不超過3mm/s為(wei)宜；測試速度(du)以受力(li)均勻、樣品與(yu)探頭充分受(shou)力為宜，通常(chang)測試速度較小(xiao)，在0.5mm/s-2mm/s比較合(he)適；測試后(hou)速度主要(yao)和粘性(xing)有關(guan)，如果不(bu)考慮樣品粘(zhan)性或者樣品沒(mei)有粘性，測(ce)試后速(su)度可(ke)以調(diao)快一點。目標模(mo)式也就(jiu)是探頭壓(ya)到什么時候停(ting)止呢，建(jian)議采(cai)用距(ju)離模式，探頭測(ce)試移動距(ju)離大于樣(yang)品的(de)高度，從而保(bao)證*穿刺樣品(pin)。

（4）餅干的硬(ying)度和脆性如何(he)定義呢？

這個是典型(xing)的餅干曲線，波(bo)動可能是由(you)餅干(gan)的破裂(lie)或是餅干內(nei)部有大(da)的內含(han)物而造成(cheng)。因此，一般將曲(qu)線內的zui高峰定(ding)義為餅干的硬(ying)度，線性距(ju)離定義為餅干(gan)的酥脆(cui)性，線性距離越(yue)短，餅干(gan)的酥脆性(xing)越好。