葡萄在貯(zhu)運(yùn)過(guò)程中(zhong)由于受(shou)到溫度波動(dòng)(dong)和機(jī)械振(zhen)動(dòng)作用，經(jīng)常(chang)出現(xiàn)大量損(sun)耗的問(wèn)題。如何(he)解決貯運(yùn)過(guò)程(cheng)中葡萄的損(sun)耗問(wèn)題是當(dāng)下(xia)重要的(de)研究課題(ti)之一。

通過(guò)用質(zhì)構(gòu)儀(yi)對(duì)貯運(yùn)過(guò)程(cheng)中葡萄品質(zhì)的(de)測(cè)定，以期為(wei)葡萄貯運(yùn)條(tiao)件的設(shè)置(zhi)提供(gong)一定的參考(kao)與依(yi)據(jù)。

1、穿刺測(cè)(ce)定

儀器：Universal TA質(zhì)(zhi)構(gòu)儀

探頭：P/NP針(zhen)型探頭

將葡萄顆粒置(zhi)于針(zhen)型探頭下進(jìn)(jin)行測(cè)試，每個(gè)(ge)品種(zhong)取15個(gè)，后算平(ping)均值。測(cè)試(shi)條件設(shè)置如(ru)下

測(cè)試模(mo)式：穿刺

測(cè)試前(qian)速度：0.5mm/s

測(cè)試速度：0.5mm/s

測(cè)試后速度(du)：5mm/s

觸發(fā)(fa)力：5g

目標(biāo)模式：形變(bian) ?50%

測(cè)定結(jié)果：可以(yi)用于測(cè)定(ding)葡萄(tao)表皮的穿(chuan)刺強(qiáng)度(du)

2、全質(zhì)構(gòu)TPA測(cè)定

儀器：Universal TA質(zhì)(zhi)構(gòu)儀

探頭：P/50柱型探頭(tou)

將葡萄顆粒置(zhi)于柱型(xing)探頭下進(jìn)行測(cè)(ce)試，每個(gè)品種(zhong)取15個(gè)，后(hou)算平均(jun)值。測(cè)試(shi)條件設(shè)置如(ru)下

測(cè)試模式：壓(ya)縮

測(cè)試前速(su)度：1mm/s

測(cè)試速度：1mm/s

測(cè)試后速(su)度：5mm/s

觸發(fā)力：8g

目標(biāo)(biao)模式(shi)：形變 30%

兩次下壓間(jian)隔時(shí)間：3s

測(cè)定結(jié)果：可以用于(yu)測(cè)定葡(pu)萄的硬度(du)、彈性、回復(fù)性、內(nèi)(nei)聚性和咀嚼(jue)性等指標(biāo)。