葡萄在貯運過(guo)程中由于受到(dao)溫度波動(dong)和機械振動作(zuo)用，經常出現(xiàn)(xian)大量損耗的問(wen)題。如何(he)解決貯運過(guo)程中葡萄的損(sun)耗問題(ti)是當下重要的(de)研究課題之(zhi)一。

通過用質構(gou)儀對(dui)貯運過程(cheng)中葡(pu)萄品質的(de)測定，以期為(wei)葡萄貯運條(tiao)件的設置提(ti)供一定(ding)的參考與依據(ju)。

1、穿刺測定(ding)

儀器：Universal TA質(zhi)構儀(yi)

探頭：P/NP針型探(tan)頭

將葡萄顆粒置(zhi)于針(zhen)型探頭(tou)下進行(xing)測試(shi)，每個品(pin)種取15個(ge)，后算平(ping)均值。測試條(tiao)件設(she)置如下(xia)

測試模(mo)式：穿刺

測試(shi)前速度：0.5mm/s

測試速度：0.5mm/s

測試后速度：5mm/s

觸發(fā)力(li)：5g

目標(biao)模式：形(xing)變 ?50%

測定結果(guo)：可以用于測(ce)定葡萄表皮(pi)的穿刺(ci)強度

2、全質(zhi)構TPA測定

儀器：Universal TA質構儀(yi)

探頭：P/50柱(zhu)型探頭

將葡萄顆(ke)粒置于柱型(xing)探頭下進行測(ce)試，每個品(pin)種取15個，后算平(ping)均值。測試條(tiao)件設置如(ru)下

測試模(mo)式：壓縮

測試前(qian)速度(du)：1mm/s

測試速度：1mm/s

測試后速(su)度：5mm/s

觸發(fā)力：8g

目標模式(shi)：形變 30%

兩次下壓間隔(ge)時間：3s

測定結果：可以用于測定(ding)葡萄的硬(ying)度、彈(dan)性、回復性、內(nei)聚性和(he)咀嚼性等指(zhi)標。