（1）餅干是什么(me)樣的餅干(gan)？有沒有脆性？

對(duì)于(yu)一些(xie)很厚(hou)又較軟的(de)餅干，有硬(ying)度，但是相(xiang)對(duì)來說脆性(xing)很小(xiao)或者沒有(you)脆性。而很(hen)薄又脆的酥(su)性餅干(gan)，相對(duì)而言才(cai)有硬度(du)和脆性的說(shuo)法。

（2）測餅干的硬度(du)和脆性應(yīng)該選(xuan)用哪些配(pei)件？

通常應(yīng)(ying)該選用2mm的柱形(xing)探頭(tou)和帶孔的平臺(tái)(tai)，柱形探頭穿(chuan)刺完樣品之(zhi)后從(cong)平臺(tái)的孔中(zhong)穿出，保證樣(yang)品穿刺(ci)*而不會(huì)對(duì)(dui)探頭(tou)有損壞(huai)。

（3）測試條(tiao)件如何選擇(ze)？ ? ?

測試前速(su)度不宜太快，太(tai)快容易造(zao)成延(yan)遲啟動(dòng)分析(xi)，通常不超(chao)過3mm/s為宜；測試(shi)速度以受(shou)力均勻、樣品與(yu)探頭充(chong)分受力為(wei)宜，通常測試(shi)速度較(jiao)小，在0.5mm/s-2mm/s比較合(he)適；測試后(hou)速度主要(yao)和粘性有關(guān)(guan)，如果不考(kao)慮樣品(pin)粘性或者樣品(pin)沒有粘(zhan)性，測試后速(su)度可以調(diào)快一(yi)點(diǎn)。目標(biāo)模式(shi)也就(jiu)是探頭壓到什(shen)么時(shí)候停止(zhi)呢，建議(yi)采用距離(li)模式，探頭(tou)測試移動(dòng)距離(li)大于樣品的高(gao)度，從(cong)而保證(zheng)*穿刺樣品。

（4）餅干的硬度(du)和脆(cui)性如何(he)定義呢？

這個(gè)是典(dian)型的(de)餅干曲線(xian)，波動(dòng)(dong)可能是由餅干(gan)的破裂或是餅(bing)干內(nèi)部有大(da)的內(nèi)含物而造(zao)成。因此，一般(ban)將曲線內(nèi)的zui高(gao)峰定(ding)義為餅干的(de)硬度，線性(xing)距離定義為餅(bing)干的酥脆(cui)性，線性距離(li)越短，餅(bing)干的酥(su)脆性(xing)越好。