（1）餅干是什(shen)么樣的餅干？有(you)沒有脆(cui)性？

對于一(yi)些很(hen)厚又較軟的(de)餅干，有硬度，但(dan)是相(xiang)對來說脆性(xing)很小或(huo)者沒有(you)脆性。而(er)很薄(bao)又脆(cui)的酥性(xing)餅干(gan)，相對而言(yan)才有硬度(du)和脆性(xing)的說法。

（2）測餅干(gan)的硬(ying)度和脆性(xing)應該選用(yong)哪些(xie)配件？

通常應該選(xuan)用2mm的柱形探頭(tou)和帶孔的平臺(tai)，柱形探頭穿(chuan)刺完樣(yang)品之后從平臺(tai)的孔中穿出，保(bao)證樣品(pin)穿刺*而不(bu)會對探(tan)頭有損壞。

（3）測試(shi)條件如何選(xuan)擇？ ? ?

測試前速度不(bu)宜太快，太快容(rong)易造成延遲(chi)啟動分(fen)析，通常不(bu)超過(guo)3mm/s為宜；測試(shi)速度以受(shou)力均勻、樣品(pin)與探頭充(chong)分受力為宜，通(tong)常測試速度(du)較小，在(zai)0.5mm/s-2mm/s比較合適；測(ce)試后速度主要(yao)和粘性(xing)有關，如果不(bu)考慮(lv)樣品粘性或者(zhe)樣品沒有粘(zhan)性，測(ce)試后速(su)度可以(yi)調快(kuai)一點。目(mu)標模(mo)式也(ye)就是探頭(tou)壓到什(shen)么時候(hou)停止呢，建議(yi)采用距離模式(shi)，探頭測試移(yi)動距離(li)大于樣品(pin)的高度，從而(er)保證*穿刺樣(yang)品。

（4）餅干的硬度和(he)脆性如何定義(yi)呢？

這個是典(dian)型的餅干曲線(xian)，波動可(ke)能是由餅(bing)干的破(po)裂或是餅(bing)干內部(bu)有大(da)的內(nei)含物而造成(cheng)。因此，一(yi)般將曲線(xian)內的zui高峰定義(yi)為餅干的硬(ying)度，線性距(ju)離定義(yi)為餅干的酥(su)脆性，線(xian)性距離越(yue)短，餅干的酥(su)脆性越好。