葡萄在貯運(yùn)(yun)過程中由于(yu)受到溫度(du)波動(dòng)和機(jī)械(xie)振動(dòng)(dong)作用，經(jīng)常(chang)出現(xiàn)大量(liang)損耗(hao)的問題。如(ru)何解(jie)決貯運(yùn)過程中(zhong)葡萄(tao)的損(sun)耗問題是(shi)當(dāng)下重(zhong)要的研究課(ke)題之一。

通過用質(zhì)構(gòu)儀(yi)對(duì)貯運(yùn)過程(cheng)中葡(pu)萄品質(zhì)的測定(ding)，以期為(wei)葡萄貯運(yùn)條件(jian)的設(shè)置(zhi)提供一定(ding)的參考與(yu)依據(jù)。

1、穿刺(ci)測定

儀器：Universal TA質(zhì)構(gòu)儀(yi)

探頭：P/NP針型(xing)探頭(tou)

將葡(pu)萄顆粒置于針(zhen)型探頭下(xia)進(jìn)行(xing)測試(shi)，每個(gè)品種取15個(gè)(ge)，后算平(ping)均值(zhi)。測試條件設(shè)置(zhi)如下

測試模式(shi)：穿刺

測試前(qian)速度：0.5mm/s

測試(shi)速度：0.5mm/s

測試(shi)后速度：5mm/s

觸發(fā)力：5g

目標(biāo)(biao)模式：形變(bian) ?50%

測定結(jié)果：可以用于(yu)測定葡萄(tao)表皮的穿刺(ci)強(qiáng)度

2、全質(zhì)(zhi)構(gòu)TPA測定(ding)

儀器：Universal TA質(zhì)(zhi)構(gòu)儀

探頭(tou)：P/50柱型探(tan)頭

將葡萄顆粒(li)置于柱型(xing)探頭(tou)下進(jìn)(jin)行測(ce)試，每(mei)個(gè)品種取(qu)15個(gè)，后(hou)算平均(jun)值。測試條件設(shè)(she)置如下

測試(shi)模式：壓縮(suo)

測試(shi)前速度(du)：1mm/s

測試速度：1mm/s

測試后(hou)速度(du)：5mm/s

觸發(fā)力：8g

目標(biāo)模式：形變(bian) 30%

兩次(ci)下壓間隔(ge)時(shí)間(jian)：3s

測定(ding)結(jié)果：可以用(yong)于測(ce)定葡萄的(de)硬度、彈性、回復(fù)(fu)性、內(nèi)聚性和咀(ju)嚼性等指(zhi)標(biāo)。