（1）餅干是什么樣(yang)的餅干？有(you)沒有脆性？

對于一些(xie)很厚又較軟的(de)餅干，有硬度，但(dan)是相對來說(shuo)脆性(xing)很小或(huo)者沒有脆性(xing)。而很薄又脆的(de)酥性餅干(gan)，相對而言才有(you)硬度(du)和脆性的(de)說法。

（2）測餅干的(de)硬度和脆性(xing)應(yīng)該選用哪些(xie)配件(jian)？

通常(chang)應(yīng)該選用2mm的(de)柱形探頭和(he)帶孔的平(ping)臺，柱形探(tan)頭穿刺完(wan)樣品之后從(cong)平臺的孔中穿(chuan)出，保證樣品(pin)穿刺*而(er)不會對探頭(tou)有損(sun)壞。

（3）測試(shi)條件如何選擇(ze)？ ? ?

測試(shi)前速度不宜太(tai)快，太快容易(yi)造成延遲(chi)啟動分析，通(tong)常不超過(guo)3mm/s為宜；測(ce)試速度以受力(li)均勻、樣品(pin)與探頭充(chong)分受(shou)力為宜，通常(chang)測試(shi)速度較小，在(zai)0.5mm/s-2mm/s比較(jiao)合適；測試后(hou)速度主(zhu)要和粘(zhan)性有關(guān)(guan)，如果不考(kao)慮樣品粘性或(huo)者樣品沒有粘(zhan)性，測試后速度(du)可以調(diào)(diao)快一點。目(mu)標模式也就是(shi)探頭壓(ya)到什么時候停(ting)止呢，建議采(cai)用距離(li)模式，探頭測(ce)試移動距離(li)大于(yu)樣品(pin)的高度，從(cong)而保證*穿(chuan)刺樣(yang)品。

（4）餅干的硬度和(he)脆性如何定義(yi)呢？

這個(ge)是典型的(de)餅干曲線(xian)，波動可能是由(you)餅干的破裂或(huo)是餅干內(nèi)部有(you)大的內(nèi)含(han)物而造成(cheng)。因此，一般(ban)將曲線內(nèi)(nei)的zui高峰(feng)定義為(wei)餅干的硬(ying)度，線性距離定(ding)義為餅干的(de)酥脆性，線性距(ju)離越短，餅(bing)干的酥脆性越(yue)好。