葡萄在貯運(yùn)(yun)過(guò)程(cheng)中由(you)于受到溫(wen)度波動(dòng)和(he)機(jī)械振動(dòng)作用(yong)，經(jīng)常出現(xiàn)大量(liang)損耗的問(wèn)(wen)題。如何解決(jue)貯運(yùn)過(guò)程中(zhong)葡萄(tao)的損耗問(wèn)題是(shi)當(dāng)下重要的(de)研究課題之(zhi)一。

通過(guò)用質(zhì)構(gòu)儀(yi)對(duì)貯運(yùn)過(guò)(guo)程中葡萄(tao)品質(zhì)(zhi)的測(cè)定，以期(qi)為葡萄貯運(yùn)條(tiao)件的(de)設(shè)置提(ti)供一(yi)定的參考(kao)與依據(jù)。

1、穿刺測(cè)(ce)定

儀器：Universal TA質(zhì)(zhi)構(gòu)儀

探頭：P/NP針型探頭(tou)

將葡(pu)萄顆粒置于針(zhen)型探頭下進(jìn)行(xing)測(cè)試，每個(gè)(ge)品種(zhong)取15個(gè)，后算平(ping)均值。測(cè)試條(tiao)件設(shè)置(zhi)如下

測(cè)試模式：穿刺(ci)

測(cè)試前速度：0.5mm/s

測(cè)試速度：0.5mm/s

測(cè)試后速度：5mm/s

觸發(fā)力(li)：5g

目標(biāo)模式：形(xing)變 ?50%

測(cè)定結(jié)(jie)果：可以用于測(cè)定(ding)葡萄表皮的穿(chuan)刺強(qiáng)度

2、全質(zhì)構(gòu)TPA測(cè)定

儀器：Universal TA質(zhì)(zhi)構(gòu)儀

探頭：P/50柱型探(tan)頭

將葡(pu)萄顆(ke)粒置(zhi)于柱型(xing)探頭(tou)下進(jìn)行測(cè)(ce)試，每個(gè)品(pin)種取15個(gè)(ge)，后算平(ping)均值。測(cè)試條(tiao)件設(shè)置如下

測(cè)試模式：壓縮(suo)

測(cè)試前速度(du)：1mm/s

測(cè)試速度(du)：1mm/s

測(cè)試后速度(du)：5mm/s

觸發(fā)力(li)：8g

目標(biāo)模式(shi)：形變 30%

兩次(ci)下壓間(jian)隔時(shí)間：3s

測(cè)定(ding)結(jié)果：可以用于測(cè)定(ding)葡萄的硬(ying)度、彈性、回(hui)復(fù)性、內(nèi)聚性和(he)咀嚼性等指(zhi)標(biāo)。