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技術(shù)文章(zhang)
質(zhì)構(gòu)(gou)儀測(ce)定貯運(yùn)期間(jian)葡萄品質(zhì)變(bian)化
葡萄在貯運(yùn)過(guo)程中由于受到(dao)溫度波動和機(jī)(ji)械振動作用,經(jīng)(jing)常出現(xiàn)大量損(sun)耗的問(wen)題。如何解(jie)決貯(zhu)運(yùn)過程中葡萄(tao)的損耗問(wen)題是當(dāng)下(xia)重要的研究課(ke)題之一。
通過用質(zhì)(zhi)構(gòu)儀對貯(zhu)運(yùn)過(guo)程中葡萄品(pin)質(zhì)的測定,以(yi)期為葡萄(tao)貯運(yùn)條(tiao)件的設(shè)置提供(gong)一定的(de)參考與依據(jù)。
1、穿刺測定(ding)
儀器:Universal TA質(zhì)構(gòu)儀(yi)
探頭:P/NP針型探頭(tou)
將葡萄顆粒(li)置于針型探頭(tou)下進(jìn)行(xing)測試,每個品種(zhong)取15個,后算平均(jun)值。測試條(tiao)件設(shè)置(zhi)如下
測試模(mo)式:穿刺
測試(shi)前速度(du):0.5mm/s
測試速度:0.5mm/s
測試(shi)后速度:5mm/s
觸發(fā)力:5g
目標(biāo)模(mo)式:形變 ?50%
測定結(jié)果(guo):可以用于測(ce)定葡萄表(biao)皮的穿刺(ci)強(qiáng)度
2、全質(zhì)構(gòu)TPA測定
儀器:Universal TA質(zhì)構(gòu)(gou)儀
探頭(tou):P/50柱型探頭(tou)
將葡萄顆粒(li)置于柱(zhu)型探(tan)頭下進(jìn)行測試(shi),每個品種取15個(ge),后算平均(jun)值。測試條(tiao)件設(shè)置如下
測試模(mo)式:壓縮(suo)
測試(shi)前速(su)度:1mm/s
測試(shi)速度:1mm/s
測試后速(su)度:5mm/s
觸發(fā)(fa)力:8g
目標(biāo)模(mo)式:形變(bian) 30%
兩次下壓間(jian)隔時(shí)間:3s
測定結(jié)果:可以(yi)用于測定(ding)葡萄(tao)的硬度、彈(dan)性、回(hui)復(fù)性、內(nèi)聚性(xing)和咀嚼(jue)性等(deng)指標(biāo)。