（1）餅干是什么(me)樣的餅(bing)干？有沒(méi)有脆性(xing)？

對(duì)于(yu)一些很(hen)厚又較(jiao)軟的餅(bing)干，有硬度，但是(shi)相對(duì)來(lái)說(shuō)(shuo)脆性很小(xiao)或者沒(méi)有(you)脆性。而很(hen)薄又脆的酥性(xing)餅干，相對(duì)(dui)而言才有硬(ying)度和脆性(xing)的說(shuō)(shuo)法。

（2）測(cè)餅(bing)干的硬度(du)和脆性應(yīng)該(gai)選用哪些配件(jian)？

通常(chang)應(yīng)該(gai)選用2mm的柱形探(tan)頭和帶孔的平(ping)臺(tái)，柱形探頭(tou)穿刺完樣品之(zhi)后從(cong)平臺(tái)的孔(kong)中穿出，保證(zheng)樣品穿刺*而不(bu)會(huì)對(duì)探(tan)頭有(you)損壞。

（3）測(cè)試條件如何(he)選擇？ ? ?

測(cè)試前(qian)速度(du)不宜太快(kuai)，太快容易造(zao)成延遲啟動(dòng)(dong)分析，通常(chang)不超過(guò)3mm/s為宜；測(cè)(ce)試速度以受(shou)力均(jun)勻、樣品與探(tan)頭充分受(shou)力為(wei)宜，通(tong)常測(cè)試(shi)速度較小，在0.5mm/s-2mm/s比(bi)較合適；測(cè)試(shi)后速(su)度主要和(he)粘性有關(guān)，如果(guo)不考慮樣品粘(zhan)性或者樣品沒(méi)(mei)有粘性，測(cè)試后(hou)速度(du)可以(yi)調(diào)快一(yi)點(diǎn)。目標(biāo)模式(shi)也就是探頭(tou)壓到什(shen)么時(shí)候停(ting)止呢，建議采用(yong)距離(li)模式，探頭測(cè)(ce)試移動(dòng)距離(li)大于樣(yang)品的高度(du)，從而保(bao)證*穿刺樣(yang)品。

（4）餅干的硬度和(he)脆性如何定義(yi)呢？

這個(gè)是(shi)典型的餅干(gan)曲線，波動(dòng)(dong)可能是由(you)餅干的破裂或(huo)是餅(bing)干內(nèi)(nei)部有大的(de)內(nèi)含物而造(zao)成。因此，一般將(jiang)曲線(xian)內(nèi)的zui高(gao)峰定義(yi)為餅干的(de)硬度，線性距離(li)定義為(wei)餅干的酥脆(cui)性，線性距離越(yue)短，餅(bing)干的(de)酥脆性越好。