葡萄在(zai)貯運(yùn)過程中由(you)于受到溫(wen)度波(bo)動(dòng)和機(jī)(ji)械振動(dòng)作用，經(jīng)(jing)常出現(xiàn)大量(liang)損耗的問(wen)題。如何解決貯(zhu)運(yùn)過程中葡萄(tao)的損耗問題(ti)是當(dāng)下重(zhong)要的研究課(ke)題之一。

通過用質(zhì)構(gòu)儀(yi)對(duì)貯(zhu)運(yùn)過(guo)程中葡萄品(pin)質(zhì)的測(cè)定(ding)，以期為(wei)葡萄貯運(yùn)(yun)條件的設(shè)(she)置提供一定(ding)的參考與依據(jù)(ju)。

1、穿刺測(cè)定

儀器(qi)：Universal TA質(zhì)構(gòu)儀

探頭：P/NP針型探頭(tou)

將葡萄顆(ke)粒置于(yu)針型(xing)探頭下進(jìn)行(xing)測(cè)試，每個(gè)(ge)品種取15個(gè)(ge)，后算平均值。測(cè)(ce)試條(tiao)件設(shè)置(zhi)如下(xia)

測(cè)試模式：穿(chuan)刺

測(cè)試(shi)前速(su)度：0.5mm/s

測(cè)試(shi)速度：0.5mm/s

測(cè)試(shi)后速度(du)：5mm/s

觸發(fā)力(li)：5g

目標(biāo)模式(shi)：形變 ?50%

測(cè)定結(jié)果(guo)：可以用于測(cè)定(ding)葡萄(tao)表皮的穿刺強(qiáng)(qiang)度

2、全質(zhì)(zhi)構(gòu)TPA測(cè)定(ding)

儀器：Universal TA質(zhì)構(gòu)儀(yi)

探頭：P/50柱型(xing)探頭

將葡萄顆(ke)粒置(zhi)于柱型探頭(tou)下進(jìn)行(xing)測(cè)試(shi)，每個(gè)品種取(qu)15個(gè)，后算平均(jun)值。測(cè)試條件設(shè)(she)置如下

測(cè)試模式(shi)：壓縮

測(cè)試前速度(du)：1mm/s

測(cè)試速(su)度：1mm/s

測(cè)試后(hou)速度：5mm/s

觸發(fā)力：8g

目標(biāo)模(mo)式：形變 30%

兩次(ci)下壓間隔時(shí)(shi)間：3s

測(cè)定結(jié)果：可以用于(yu)測(cè)定葡萄(tao)的硬度、彈性(xing)、回復(fù)性、內(nèi)聚(ju)性和咀(ju)嚼性等指標(biāo)。