葡萄(tao)在貯(zhu)運(yùn)過(guo)程中由(you)于受到溫度波(bo)動和機(jī)(ji)械振動作用，經(jīng)(jing)常出現(xiàn)大量損(sun)耗的問題。如何(he)解決貯(zhu)運(yùn)過程中葡萄(tao)的損耗問(wen)題是當(dāng)下重(zhong)要的(de)研究課題之(zhi)一。

通過用質(zhì)構(gòu)儀(yi)對貯運(yùn)過程中(zhong)葡萄(tao)品質(zhì)的測(ce)定，以(yi)期為葡萄(tao)貯運(yùn)條件的設(shè)(she)置提供一(yi)定的參考與依(yi)據(jù)。

1、穿刺測定

儀器：Universal TA質(zhì)構(gòu)儀

探頭：P/NP針型(xing)探頭(tou)

將葡(pu)萄顆(ke)粒置于針(zhen)型探頭下進(jìn)(jin)行測試(shi)，每個品(pin)種取15個，后算平(ping)均值。測試條件(jian)設(shè)置如下(xia)

測試(shi)模式(shi)：穿刺(ci)

測試(shi)前速度(du)：0.5mm/s

測試速(su)度：0.5mm/s

測試后(hou)速度：5mm/s

觸發(fā)力：5g

目標(biāo)模式：形變(bian) ?50%

測定結(jié)果：可以用(yong)于測定葡(pu)萄表皮的穿(chuan)刺強(qiáng)度

2、全質(zhì)構(gòu)TPA測定

儀器(qi)：Universal TA質(zhì)構(gòu)儀

探頭(tou)：P/50柱型探頭

將葡萄顆粒置(zhi)于柱型(xing)探頭(tou)下進(jìn)行測(ce)試，每個品(pin)種取15個，后(hou)算平均值(zhi)。測試條件設(shè)置(zhi)如下

測試模式：壓(ya)縮

測試前速(su)度：1mm/s

測試速度：1mm/s

測試后(hou)速度：5mm/s

觸發(fā)力：8g

目標(biāo)模(mo)式：形變(bian) 30%

兩次下壓(ya)間隔(ge)時間：3s

測定結(jié)果(guo)：可以用于測定(ding)葡萄的硬度、彈(dan)性、回(hui)復(fù)性、內(nèi)聚性和(he)咀嚼性等(deng)指標(biāo)(biao)。