（1）餅干是什(shen)么樣的(de)餅干？有沒(mei)有脆性？

對于一些很(hen)厚又(you)較軟的(de)餅干，有硬度(du)，但是相對來說(shuo)脆性很小或者(zhe)沒有(you)脆性(xing)。而很薄又脆的(de)酥性(xing)餅干，相(xiang)對而言才有(you)硬度和(he)脆性的說法(fa)。

（2）測餅干的(de)硬度和脆(cui)性應該選用(yong)哪些(xie)配件？

通常應(ying)該選用2mm的(de)柱形探頭和帶(dai)孔的(de)平臺(tai)，柱形探頭穿(chuan)刺完樣品之后(hou)從平臺的孔中(zhong)穿出(chu)，保證樣品穿刺(ci)*而不會對探頭(tou)有損壞(huai)。

（3）測試條件如何(he)選擇？ ? ?

測試(shi)前速度不宜(yi)太快，太快容(rong)易造成延遲(chi)啟動(dong)分析(xi)，通常(chang)不超過3mm/s為宜(yi)；測試速度(du)以受力均(jun)勻、樣品與探頭(tou)充分(fen)受力(li)為宜，通常測(ce)試速度較小(xiao)，在0.5mm/s-2mm/s比較合適；測(ce)試后速度主要(yao)和粘性(xing)有關(guān)，如(ru)果不考慮樣品(pin)粘性或者(zhe)樣品沒(mei)有粘性，測(ce)試后(hou)速度可以(yi)調(diào)快一點。目標(biao)模式也就(jiu)是探頭(tou)壓到(dao)什么時(shi)候停止呢，建議(yi)采用距離模式(shi)，探頭測試移動(dong)距離(li)大于樣品的高(gao)度，從而保證(zheng)*穿刺樣品(pin)。

（4）餅干的硬(ying)度和脆(cui)性如何定(ding)義呢？

這個是典型的(de)餅干(gan)曲線，波動可(ke)能是由餅干的(de)破裂或是餅干(gan)內(nèi)部有(you)大的內(nèi)含物(wu)而造成(cheng)。因此，一般(ban)將曲(qu)線內(nèi)(nei)的zui高峰定(ding)義為餅干的硬(ying)度，線性距(ju)離定(ding)義為餅干的酥(su)脆性，線性(xing)距離(li)越短，餅干的酥(su)脆性越好。