技術(shù)文(wen)章
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技術(shù)文章(zhang)
質(zhì)構(gòu)(gou)儀測定貯運(yùn)期(qi)間葡(pu)萄品(pin)質(zhì)變化
葡萄在貯(zhu)運(yùn)過程中由(you)于受(shou)到溫度波(bo)動(dòng)和機(jī)械(xie)振動(dòng)作用,經(jīng)常(chang)出現(xiàn)大量損(sun)耗的問(wen)題。如何(he)解決貯(zhu)運(yùn)過程中葡(pu)萄的損耗問題(ti)是當(dāng)下重要的(de)研究課題之一(yi)。
通過用質(zhì)構(gòu)儀(yi)對(duì)貯(zhu)運(yùn)過程中(zhong)葡萄品質(zhì)的測(ce)定,以(yi)期為葡(pu)萄貯運(yùn)條(tiao)件的設(shè)置(zhi)提供(gong)一定(ding)的參(can)考與依據(jù)(ju)。
1、穿刺測定
儀器:Universal TA質(zhì)構(gòu)儀(yi)
探頭(tou):P/NP針型探(tan)頭
將葡萄顆粒(li)置于針型(xing)探頭(tou)下進(jìn)行(xing)測試,每個(gè)(ge)品種取15個(gè)(ge),后算平均值(zhi)。測試條件(jian)設(shè)置如下(xia)
測試模(mo)式:穿刺(ci)
測試前速度(du):0.5mm/s
測試速度:0.5mm/s
測試后速度(du):5mm/s
觸發(fā)力:5g
目標(biāo)模式(shi):形變(bian) ?50%
測定結(jié)果:可以用于(yu)測定葡萄表皮(pi)的穿刺強(qiáng)度
2、全質(zhì)構(gòu)(gou)TPA測定
儀器(qi):Universal TA質(zhì)構(gòu)儀
探頭:P/50柱型探頭(tou)
將葡(pu)萄顆粒(li)置于柱型探(tan)頭下進(jìn)行測試(shi),每個(gè)(ge)品種取15個(gè),后算(suan)平均值。測試條(tiao)件設(shè)置如(ru)下
測試模式(shi):壓縮
測試(shi)前速度:1mm/s
測試速(su)度:1mm/s
測試后速度:5mm/s
觸發(fā)力(li):8g
目標(biāo)(biao)模式:形變 30%
兩次下壓間(jian)隔時(shí)間:3s
測定(ding)結(jié)果(guo):可以用于(yu)測定葡萄的(de)硬度、彈性、回(hui)復(fù)性、內(nèi)聚(ju)性和咀嚼(jue)性等指標(biāo)。