技術(shù)文章
Technical articles(1)餅干是什么樣(yang)的餅(bing)干?有沒有脆(cui)性?
對于(yu)一些很(hen)厚又較軟的(de)餅干,有硬(ying)度,但(dan)是相對來說脆(cui)性很(hen)小或者(zhe)沒有脆性。而(er)很薄(bao)又脆的(de)酥性餅(bing)干,相(xiang)對而(er)言才有硬(ying)度和脆性的(de)說法。
(2)測餅干的硬度(du)和脆性應(ying)該選(xuan)用哪些配件(jian)?
通常應該(gai)選用2mm的(de)柱形探頭和帶(dai)孔的平臺,柱形(xing)探頭穿刺(ci)完樣(yang)品之后(hou)從平(ping)臺的孔中(zhong)穿出,保證樣(yang)品穿刺*而(er)不會對探頭有(you)損壞。
(3)測試條件如(ru)何選擇(ze)? ? ?
測試前速(su)度不宜太(tai)快,太(tai)快容易造成(cheng)延遲(chi)啟動分析(xi),通常不(bu)超過3mm/s為宜(yi);測試速(su)度以受(shou)力均勻、樣品(pin)與探頭充分受(shou)力為宜,通常(chang)測試速度較(jiao)小,在(zai)0.5mm/s-2mm/s比較合適;測試(shi)后速度(du)主要和(he)粘性有關(guān),如(ru)果不(bu)考慮樣品粘(zhan)性或者樣品(pin)沒有(you)粘性,測(ce)試后速度可以(yi)調(diào)快(kuai)一點(dian)。目標模式也就(jiu)是探頭壓到什(shen)么時(shi)候停止呢,建議(yi)采用(yong)距離模式,探(tan)頭測試(shi)移動距離大(da)于樣品(pin)的高度(du),從而保證(zheng)*穿刺樣品。
(4)餅干的硬度和(he)脆性如何定(ding)義呢?
這個是典型的(de)餅干(gan)曲線,波動可能(neng)是由餅干的(de)破裂或(huo)是餅干內(nèi)部有(you)大的內(nèi)含物而(er)造成。因此,一(yi)般將曲線內(nèi)的(de)zui高峰定義為餅(bing)干的硬度,線(xian)性距離定義為(wei)餅干的酥脆性(xing),線性距離(li)越短(duan),餅干的酥脆性(xing)越好。