（1）餅干是什么(me)樣的(de)餅干？有沒有脆(cui)性？

對于(yu)一些很厚又較(jiao)軟的餅(bing)干，有硬度(du)，但是(shi)相對來說脆性(xing)很小或者沒有(you)脆性。而很(hen)薄又脆(cui)的酥性餅(bing)干，相對而言(yan)才有硬度和脆(cui)性的說法。

（2）測餅干的硬度(du)和脆性應(yīng)該選(xuan)用哪些配件(jian)？

通常應(yīng)該(gai)選用(yong)2mm的柱(zhu)形探頭(tou)和帶孔(kong)的平臺(tai)，柱形探頭穿刺(ci)完樣品之后從(cong)平臺的孔中穿(chuan)出，保證樣(yang)品穿刺(ci)*而不會對探(tan)頭有損(sun)壞。

（3）測試條(tiao)件如何選擇？ ? ?

測試前速(su)度不宜太快，太(tai)快容(rong)易造成延遲(chi)啟動分析，通(tong)常不(bu)超過3mm/s為宜；測(ce)試速度(du)以受力(li)均勻、樣品與(yu)探頭充分(fen)受力為宜(yi)，通常測試(shi)速度(du)較小，在0.5mm/s-2mm/s比較合(he)適；測試后速(su)度主要和(he)粘性有關(guān)(guan)，如果不考慮樣(yang)品粘性或(huo)者樣品(pin)沒有粘性(xing)，測試后速(su)度可以調(diào)快一(yi)點。目標(biāo)(biao)模式(shi)也就是探頭(tou)壓到什(shen)么時候停止呢(ne)，建議采用距離(li)模式，探頭測試(shi)移動距離(li)大于(yu)樣品的高度(du)，從而保證*穿(chuan)刺樣品(pin)。

（4）餅干的硬度(du)和脆性如(ru)何定義呢？

這個是典型的(de)餅干曲線(xian)，波動(dong)可能是由餅(bing)干的破裂或(huo)是餅干內(nèi)(nei)部有大的內(nèi)含(han)物而造成。因(yin)此，一般(ban)將曲線(xian)內(nèi)的zui高峰定(ding)義為餅(bing)干的硬度，線(xian)性距(ju)離定義(yi)為餅干(gan)的酥脆性(xing)，線性距離(li)越短，餅干(gan)的酥脆(cui)性越好。