（1）餅干是什(shen)么樣的餅(bing)干？有沒有(you)脆性？

對于一些(xie)很厚又較軟的(de)餅干，有(you)硬度，但(dan)是相對來說(shuo)脆性很小或(huo)者沒有(you)脆性。而很薄又(you)脆的酥(su)性餅干，相對(dui)而言才有硬(ying)度和脆性的說(shuo)法。

（2）測餅干的硬度(du)和脆性應(yīng)該選(xuan)用哪(na)些配件？

通常應(yīng)該選用(yong)2mm的柱(zhu)形探頭和(he)帶孔(kong)的平臺(tai)，柱形探頭(tou)穿刺完樣品之(zhi)后從(cong)平臺(tai)的孔中穿出(chu)，保證樣品穿(chuan)刺*而不會對(dui)探頭有損(sun)壞。

（3）測試(shi)條件如(ru)何選(xuan)擇？ ? ?

測試前(qian)速度(du)不宜太(tai)快，太快容易(yi)造成延遲啟動(dong)分析，通(tong)常不超(chao)過3mm/s為宜；測試(shi)速度以受力(li)均勻(yun)、樣品與探(tan)頭充(chong)分受力為(wei)宜，通常測試速(su)度較小，在0.5mm/s-2mm/s比較(jiao)合適；測試后(hou)速度(du)主要(yao)和粘性有關(guān)(guan)，如果不考慮(lv)樣品(pin)粘性或者(zhe)樣品(pin)沒有粘(zhan)性，測試后速(su)度可以(yi)調(diào)快(kuai)一點。目標模式(shi)也就是探頭壓(ya)到什(shen)么時(shi)候停(ting)止呢，建議(yi)采用距離模式(shi)，探頭測試(shi)移動距(ju)離大于樣品(pin)的高度，從而保(bao)證*穿(chuan)刺樣品(pin)。

（4）餅干的(de)硬度和脆性(xing)如何定義(yi)呢？

這個(ge)是典(dian)型的(de)餅干曲線，波動(dong)可能是由餅(bing)干的(de)破裂(lie)或是餅干內(nèi)(nei)部有大的內(nèi)(nei)含物而(er)造成。因此(ci)，一般(ban)將曲(qu)線內(nèi)(nei)的zui高峰(feng)定義為(wei)餅干的硬(ying)度，線性距離(li)定義為餅干的(de)酥脆性，線性距(ju)離越短，餅干的(de)酥脆(cui)性越好(hao)。