葡萄在(zai)貯運(yùn)過(guò)程(cheng)中由于(yu)受到(dao)溫度波(bo)動(dòng)和機(jī)(ji)械振(zhen)動(dòng)作用，經(jīng)常(chang)出現(xiàn)大(da)量損耗(hao)的問(wèn)題(ti)。如何解決貯(zhu)運(yùn)過(guò)程中葡(pu)萄的(de)損耗問(wèn)題是(shi)當(dāng)下重要的研(yan)究課題之一。

通過(guò)用(yong)質(zhì)構(gòu)儀對(duì)貯運(yùn)(yun)過(guò)程中(zhong)葡萄品質(zhì)的(de)測(cè)定(ding)，以期為(wei)葡萄貯運(yùn)條件(jian)的設(shè)置提(ti)供一(yi)定的參(can)考與(yu)依據(jù)(ju)。

1、穿刺測(cè)(ce)定

儀器(qi)：Universal TA質(zhì)構(gòu)儀(yi)

探頭：P/NP針型探頭(tou)

將葡萄顆粒(li)置于針型探(tan)頭下進(jìn)行(xing)測(cè)試，每個(gè)品種(zhong)取15個(gè)，后算平均(jun)值。測(cè)試條件設(shè)(she)置如下(xia)

測(cè)試模式：穿(chuan)刺

測(cè)試前速度(du)：0.5mm/s

測(cè)試速度：0.5mm/s

測(cè)試后速(su)度：5mm/s

觸發(fā)力(li)：5g

目標(biāo)(biao)模式：形變(bian) ?50%

測(cè)定結(jié)果(guo)：可以(yi)用于測(cè)(ce)定葡萄(tao)表皮的(de)穿刺強(qiáng)(qiang)度

2、全質(zhì)構(gòu)TPA測(cè)定

儀器：Universal TA質(zhì)(zhi)構(gòu)儀

探頭：P/50柱(zhu)型探頭(tou)

將葡(pu)萄顆粒置于(yu)柱型(xing)探頭下(xia)進(jìn)行測(cè)試，每(mei)個(gè)品種(zhong)取15個(gè)，后算平均(jun)值。測(cè)試條件(jian)設(shè)置如下(xia)

測(cè)試(shi)模式：壓(ya)縮

測(cè)試前速(su)度：1mm/s

測(cè)試速(su)度：1mm/s

測(cè)試后(hou)速度：5mm/s

觸發(fā)力：8g

目標(biāo)(biao)模式：形變 30%

兩次下壓間隔(ge)時(shí)間(jian)：3s

測(cè)定結(jié)果：可以用于測(cè)(ce)定葡萄的(de)硬度、彈性、回復(fù)(fu)性、內(nèi)聚性(xing)和咀嚼性等(deng)指標(biāo)。