葡萄在貯運(yùn)過(guò)(guo)程中(zhong)由于受到(dao)溫度波(bo)動(dòng)和機(jī)械(xie)振動(dòng)作用，經(jīng)(jing)常出現(xiàn)大(da)量損耗的問(wèn)(wen)題。如何解決貯(zhu)運(yùn)過(guò)(guo)程中葡萄的損(sun)耗問(wèn)題(ti)是當(dāng)下重(zhong)要的研究課(ke)題之(zhi)一。

通過(guò)用質(zhì)構(gòu)儀(yi)對(duì)貯運(yùn)過(guò)程中(zhong)葡萄品(pin)質(zhì)的測(cè)定(ding)，以期為葡萄貯(zhu)運(yùn)條件的設(shè)(she)置提供一定(ding)的參考與依據(jù)(ju)。

1、穿刺測(cè)(ce)定

儀器：Universal TA質(zhì)(zhi)構(gòu)儀

探頭：P/NP針型探(tan)頭

將葡萄顆(ke)粒置于針(zhen)型探(tan)頭下進(jìn)行(xing)測(cè)試，每個(gè)品種(zhong)取15個(gè)，后(hou)算平均值(zhi)。測(cè)試條件(jian)設(shè)置(zhi)如下

測(cè)試模式：穿(chuan)刺

測(cè)試前速度：0.5mm/s

測(cè)試速度(du)：0.5mm/s

測(cè)試(shi)后速度(du)：5mm/s

觸發(fā)力：5g

目標(biāo)模(mo)式：形變 ?50%

測(cè)定結(jié)果：可以用于(yu)測(cè)定葡(pu)萄表皮的穿刺(ci)強(qiáng)度

2、全質(zhì)構(gòu)TPA測(cè)定

儀器：Universal TA質(zhì)(zhi)構(gòu)儀(yi)

探頭(tou)：P/50柱型探頭(tou)

將葡萄顆(ke)粒置于(yu)柱型探頭(tou)下進(jìn)行測(cè)(ce)試，每個(gè)品(pin)種取15個(gè)，后算(suan)平均值。測(cè)試(shi)條件(jian)設(shè)置如下(xia)

測(cè)試模(mo)式：壓縮

測(cè)試(shi)前速度(du)：1mm/s

測(cè)試速度：1mm/s

測(cè)試后(hou)速度：5mm/s

觸發(fā)力：8g

目標(biāo)(biao)模式(shi)：形變 30%

兩次下(xia)壓間隔時(shí)間：3s

測(cè)定結(jié)(jie)果：可以用(yong)于測(cè)定葡萄(tao)的硬度(du)、彈性、回復(fù)性、內(nèi)(nei)聚性和(he)咀嚼(jue)性等(deng)指標(biāo)。