葡萄在貯運(yùn)過(guo)程中(zhong)由于受到溫(wen)度波動(dòng)和(he)機(jī)械(xie)振動(dòng)作用，經(jīng)常(chang)出現(xiàn)大量(liang)損耗(hao)的問(wen)題。如何(he)解決貯運(yùn)(yun)過程中葡(pu)萄的損耗問題(ti)是當(dāng)下重要的(de)研究課題之一(yi)。

通過(guo)用質(zhì)構(gòu)儀對貯(zhu)運(yùn)過(guo)程中葡萄品質(zhì)(zhi)的測(ce)定，以(yi)期為葡(pu)萄貯運(yùn)(yun)條件的設(shè)(she)置提供一定(ding)的參考與依據(jù)(ju)。

1、穿刺測(ce)定

儀器：Universal TA質(zhì)構(gòu)(gou)儀

探頭：P/NP針型探(tan)頭

將葡(pu)萄顆粒置于(yu)針型探頭(tou)下進(jìn)(jin)行測試，每(mei)個(gè)品(pin)種取(qu)15個(gè)，后算平均值(zhi)。測試條件設(shè)置(zhi)如下

測試模式：穿(chuan)刺

測試(shi)前速度：0.5mm/s

測試速度(du)：0.5mm/s

測試后速度：5mm/s

觸發(fā)力：5g

目標(biāo)模式：形(xing)變 ?50%

測定(ding)結(jié)果(guo)：可以用(yong)于測定葡萄表(biao)皮的穿(chuan)刺強(qiáng)度

2、全質(zhì)(zhi)構(gòu)TPA測定

儀器：Universal TA質(zhì)構(gòu)儀(yi)

探頭(tou)：P/50柱型(xing)探頭

將葡(pu)萄顆(ke)粒置于柱(zhu)型探頭(tou)下進(jìn)行測(ce)試，每個(gè)(ge)品種取(qu)15個(gè)，后(hou)算平均(jun)值。測試條(tiao)件設(shè)(she)置如下(xia)

測試模式：壓縮(suo)

測試前速(su)度：1mm/s

測試速度：1mm/s

測試后速度：5mm/s

觸發(fā)力：8g

目標(biāo)模式：形(xing)變 30%

兩次下壓(ya)間隔時(shí)(shi)間：3s

測定結(jié)果(guo)：可以用于測(ce)定葡(pu)萄的硬度、彈性(xing)、回復(fù)性、內(nèi)聚性(xing)和咀嚼性等指(zhi)標(biāo)。