葡萄(tao)在貯運(yùn)過程中(zhong)由于受到溫(wen)度波動(dòng)(dong)和機(jī)械(xie)振動(dòng)(dong)作用，經(jīng)(jing)常出現(xiàn)大量損(sun)耗的問(wen)題。如何解決(jue)貯運(yùn)過程中葡(pu)萄的損(sun)耗問題是當(dāng)下(xia)重要的(de)研究課題之(zhi)一。

通過用質(zhì)構(gòu)(gou)儀對(duì)貯運(yùn)過程(cheng)中葡萄品質(zhì)的(de)測(cè)定(ding)，以期為葡(pu)萄貯(zhu)運(yùn)條(tiao)件的設(shè)置提(ti)供一定的參(can)考與依據(jù)。

1、穿刺測(cè)(ce)定

儀器(qi)：Universal TA質(zhì)構(gòu)儀(yi)

探頭：P/NP針型探頭(tou)

將葡(pu)萄顆(ke)粒置于針(zhen)型探頭下進(jìn)行(xing)測(cè)試，每(mei)個(gè)品種(zhong)取15個(gè)，后算(suan)平均值(zhi)。測(cè)試條件設(shè)(she)置如下

測(cè)試模式：穿刺(ci)

測(cè)試前速(su)度：0.5mm/s

測(cè)試速(su)度：0.5mm/s

測(cè)試后速度：5mm/s

觸發(fā)力：5g

目標(biāo)模式：形(xing)變 ?50%

測(cè)定(ding)結(jié)果：可以用(yong)于測(cè)定(ding)葡萄表皮的穿(chuan)刺強(qiáng)度

2、全質(zhì)構(gòu)TPA測(cè)定

儀器(qi)：Universal TA質(zhì)構(gòu)(gou)儀

探頭：P/50柱型探(tan)頭

將葡萄顆(ke)粒置于柱型(xing)探頭下進(jìn)行(xing)測(cè)試，每個(gè)品種(zhong)取15個(gè)，后算(suan)平均值(zhi)。測(cè)試條件設(shè)(she)置如(ru)下

測(cè)試模(mo)式：壓縮

測(cè)試(shi)前速度(du)：1mm/s

測(cè)試速度(du)：1mm/s

測(cè)試后(hou)速度：5mm/s

觸發(fā)力：8g

目標(biāo)模(mo)式：形變 30%

兩次(ci)下壓(ya)間隔(ge)時(shí)間：3s

測(cè)定結(jié)果(guo)：可以用于(yu)測(cè)定葡(pu)萄的硬度(du)、彈性、回復(fù)(fu)性、內(nèi)聚性和咀(ju)嚼性等(deng)指標(biāo)。