技術(shù)文章(zhang)
Technical articles當前位(wei)置:首頁
技術(shù)文(wen)章
質(zhì)構(gòu)儀(yi)測定貯運(yun)期間(jian)葡萄品質(zhì)(zhi)變化
葡萄在貯運過(guo)程中由于(yu)受到溫(wen)度波動和機械(xie)振動作用,經(jīng)常(chang)出現(xiàn)大量損(sun)耗的問題。如(ru)何解(jie)決貯運過程(cheng)中葡萄的(de)損耗(hao)問題是當下重(zhong)要的研(yan)究課題(ti)之一。
通過用質(zhì)構(gòu)(gou)儀對貯運過(guo)程中葡萄品質(zhì)(zhi)的測(ce)定,以期為葡(pu)萄貯運條(tiao)件的設(shè)置提供(gong)一定的參(can)考與依(yi)據(jù)。
1、穿刺測定
儀器:Universal TA質(zhì)構(gòu)(gou)儀
探頭(tou):P/NP針型探(tan)頭
將葡萄顆(ke)粒置于針(zhen)型探(tan)頭下進行(xing)測試(shi),每個品種取15個(ge),后算平均值(zhi)。測試條(tiao)件設(shè)置(zhi)如下
測試模(mo)式:穿刺
測試前(qian)速度:0.5mm/s
測試速度:0.5mm/s
測試(shi)后速(su)度:5mm/s
觸發(fā)力(li):5g
目標模式:形(xing)變 ?50%
測定結(jié)果:可以用于測(ce)定葡(pu)萄表皮的(de)穿刺強度
2、全質(zhì)構(gòu)(gou)TPA測定
儀器:Universal TA質(zhì)構(gòu)(gou)儀
探頭:P/50柱型(xing)探頭
將葡萄顆(ke)粒置于柱(zhu)型探頭下進行(xing)測試,每個品種(zhong)取15個(ge),后算平(ping)均值(zhi)。測試條件設(shè)置(zhi)如下(xia)
測試模式(shi):壓縮
測試前速(su)度:1mm/s
測試速度(du):1mm/s
測試后速度:5mm/s
觸發(fā)力:8g
目標模式:形變(bian) 30%
兩次下壓間(jian)隔時間(jian):3s
測定結(jié)果:可以用(yong)于測定葡萄(tao)的硬度、彈性(xing)、回復(fù)性、內(nèi)聚性(xing)和咀(ju)嚼性等指標。