（1）餅干是(shi)什么樣的餅干(gan)？有沒有脆性(xing)？

對(duì)于一(yi)些很(hen)厚又較(jiao)軟的餅(bing)干，有硬(ying)度，但是相對(duì)(dui)來說(shuo)脆性很小(xiao)或者(zhe)沒有(you)脆性。而(er)很薄又脆(cui)的酥性餅干，相(xiang)對(duì)而(er)言才有(you)硬度(du)和脆性(xing)的說法。

（2）測餅干的硬度(du)和脆性應(yīng)該(gai)選用哪些(xie)配件(jian)？

通常應(yīng)(ying)該選用2mm的柱(zhu)形探頭和帶孔(kong)的平臺(tái)，柱形探(tan)頭穿刺完樣(yang)品之后從(cong)平臺(tái)的孔(kong)中穿出(chu)，保證樣品穿刺(ci)*而不會(huì)對(duì)(dui)探頭有損壞(huai)。

（3）測試條件(jian)如何選擇？ ? ?

測試前速(su)度不宜(yi)太快，太快容易(yi)造成(cheng)延遲啟(qi)動(dòng)分析，通常不(bu)超過(guo)3mm/s為宜(yi)；測試(shi)速度(du)以受力均勻(yun)、樣品與(yu)探頭充分受力(li)為宜，通常測(ce)試速(su)度較(jiao)小，在0.5mm/s-2mm/s比較合(he)適；測試后速(su)度主要和(he)粘性有(you)關(guān)，如果不考慮(lv)樣品粘性或(huo)者樣品沒有粘(zhan)性，測試后(hou)速度可(ke)以調(diào)快一點(diǎn)(dian)。目標(biāo)模式也(ye)就是探頭(tou)壓到什(shen)么時(shí)候(hou)停止(zhi)呢，建議采(cai)用距離模式，探(tan)頭測試(shi)移動(dòng)距離大(da)于樣(yang)品的高度，從(cong)而保(bao)證*穿刺樣(yang)品。

（4）餅干的硬(ying)度和脆性(xing)如何定義呢？

這個(gè)是(shi)典型(xing)的餅干曲(qu)線，波動(dòng)(dong)可能是由餅干(gan)的破裂或是(shi)餅干內(nèi)部有大(da)的內(nèi)含物而造(zao)成。因此，一般將(jiang)曲線內(nèi)的zui高峰(feng)定義為(wei)餅干的硬(ying)度，線性距離(li)定義為餅(bing)干的(de)酥脆性，線(xian)性距離越(yue)短，餅干的酥脆(cui)性越好。