葡萄在貯運過(guo)程中由于受到(dao)溫度波動和(he)機械振動作用(yong)，經(jīng)常出現(xiàn)大量(liang)損耗(hao)的問(wen)題。如何解決貯(zhu)運過程(cheng)中葡萄的(de)損耗(hao)問題是當(dang)下重要的(de)研究課題之(zhi)一。

通過(guo)用質(zhì)構(gòu)(gou)儀對(dui)貯運過程中(zhong)葡萄品質(zhì)的測(ce)定，以(yi)期為葡萄(tao)貯運條件的(de)設置(zhi)提供(gong)一定的參考與(yu)依據(jù)(ju)。

1、穿刺測定

儀器：Universal TA質(zhì)(zhi)構(gòu)儀

探頭(tou)：P/NP針型探頭(tou)

將葡萄顆粒(li)置于針型探頭(tou)下進行測(ce)試，每(mei)個品種取15個，后(hou)算平均值(zhi)。測試條件(jian)設置如下(xia)

測試(shi)模式：穿刺

測試前速度：0.5mm/s

測試(shi)速度：0.5mm/s

測試后速(su)度：5mm/s

觸發(fā)力：5g

目標模式：形變(bian) ?50%

測定(ding)結(jié)果：可以(yi)用于(yu)測定(ding)葡萄表皮的(de)穿刺強度

2、全質(zhì)構(gòu)TPA測定

儀器：Universal TA質(zhì)構(gòu)儀(yi)

探頭：P/50柱(zhu)型探頭

將葡萄顆(ke)粒置于柱型(xing)探頭(tou)下進行測(ce)試，每個品種取(qu)15個，后算平均值(zhi)。測試條(tiao)件設(she)置如下

測試(shi)模式：壓縮

測試(shi)前速度(du)：1mm/s

測試速度(du)：1mm/s

測試后速(su)度：5mm/s

觸發(fā)力：8g

目標模式：形變(bian) 30%

兩次下壓間隔(ge)時間：3s

測定結(jié)(jie)果：可以用于測定(ding)葡萄的硬(ying)度、彈性、回(hui)復性、內(nèi)聚性和(he)咀嚼(jue)性等指標。