葡萄在貯運(yùn)過(guò)(guo)程中由于(yu)受到(dao)溫度波動(dòng)和(he)機(jī)械振動(dòng)作用(yong)，經(jīng)常出現(xiàn)大(da)量損耗的問(wèn)題(ti)。如何解決貯運(yùn)(yun)過(guò)程(cheng)中葡萄的損耗(hao)問(wèn)題是當(dāng)下重(zhong)要的研究課(ke)題之一。

通過(guò)用質(zhì)構(gòu)儀(yi)對(duì)貯運(yùn)過(guò)程中(zhong)葡萄品質(zhì)(zhi)的測(cè)定，以期(qi)為葡萄貯運(yùn)條(tiao)件的設(shè)(she)置提(ti)供一定的(de)參考與依據(jù)(ju)。

1、穿刺測(cè)(ce)定

儀器：Universal TA質(zhì)(zhi)構(gòu)儀

探頭：P/NP針(zhen)型探頭(tou)

將葡萄顆粒置(zhi)于針型探頭下(xia)進(jìn)行(xing)測(cè)試，每個(gè)(ge)品種取(qu)15個(gè)，后算平均(jun)值。測(cè)試條件設(shè)(she)置如下

測(cè)試模式：穿刺(ci)

測(cè)試前速度：0.5mm/s

測(cè)試速度：0.5mm/s

測(cè)試(shi)后速(su)度：5mm/s

觸發(fā)力：5g

目標(biāo)模式(shi)：形變 ?50%

測(cè)定(ding)結(jié)果(guo)：可以用(yong)于測(cè)定葡(pu)萄表(biao)皮的(de)穿刺強(qiáng)度

2、全質(zhì)構(gòu)TPA測(cè)定

儀器：Universal TA質(zhì)構(gòu)(gou)儀

探頭：P/50柱型探頭(tou)

將葡萄顆粒(li)置于柱(zhu)型探頭下進(jìn)(jin)行測(cè)試，每個(gè)品(pin)種取(qu)15個(gè)，后算平均值(zhi)。測(cè)試條件設(shè)(she)置如下

測(cè)試模(mo)式：壓縮(suo)

測(cè)試前速度(du)：1mm/s

測(cè)試速度(du)：1mm/s

測(cè)試后速(su)度：5mm/s

觸發(fā)力：8g

目標(biāo)(biao)模式：形變 30%

兩次下壓間(jian)隔時(shí)間：3s

測(cè)定(ding)結(jié)果：可以(yi)用于測(cè)定(ding)葡萄的硬度、彈(dan)性、回復(fù)性、內(nèi)(nei)聚性和咀(ju)嚼性等指標(biāo)(biao)。