葡萄在貯(zhu)運過程(cheng)中由于受到溫(wen)度波動和機械(xie)振動作用，經(jīng)常(chang)出現(xiàn)大(da)量損耗的(de)問題。如何解決(jue)貯運過(guo)程中葡萄的損(sun)耗問題是當下(xia)重要的(de)研究(jiu)課題之一。

通過用質構儀(yi)對貯運(yun)過程中葡萄(tao)品質的測(ce)定，以(yi)期為葡萄貯(zhu)運條(tiao)件的設置(zhi)提供一定(ding)的參考(kao)與依據(jù)。

1、穿刺測定

儀器(qi)：Universal TA質構儀(yi)

探頭：P/NP針型探頭(tou)

將葡萄顆(ke)粒置(zhi)于針型(xing)探頭下(xia)進行測試，每(mei)個品種取15個(ge)，后算(suan)平均值。測試(shi)條件(jian)設置如下(xia)

測試模(mo)式：穿刺(ci)

測試前速(su)度：0.5mm/s

測試速度：0.5mm/s

測試后(hou)速度(du)：5mm/s

觸發(fā)力：5g

目標模式(shi)：形變 ?50%

測定結(jie)果：可以用于(yu)測定葡(pu)萄表皮的穿刺(ci)強度

2、全質構TPA測定

儀器(qi)：Universal TA質構儀

探頭：P/50柱型探(tan)頭

將葡萄(tao)顆粒置于柱(zhu)型探頭(tou)下進行測試，每(mei)個品種(zhong)取15個，后算平均(jun)值。測試條件(jian)設置如(ru)下

測試模(mo)式：壓縮(suo)

測試前速度：1mm/s

測試速(su)度：1mm/s

測試后(hou)速度(du)：5mm/s

觸發(fā)力：8g

目標模(mo)式：形變 30%

兩次下壓間隔(ge)時間：3s

測定(ding)結果：可以(yi)用于測定(ding)葡萄(tao)的硬度(du)、彈性、回(hui)復性、內聚性(xing)和咀嚼性等(deng)指標(biao)。