技術(shù)(shu)文章
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物性分析(xi)儀(質(zhì)構(gòu)儀)用(yong)于蛋殼力學(xué)(xue)特性研究
蛋在腌制過(guo)程中,蛋殼的品(pin)質(zhì)是影響蛋成(cheng)品品質(zhì)的(de)重要(yao)因素,對(duì)不同品(pin)質(zhì)的蛋殼(ke),吸收和(he)滲透(tou)傳遞食鹽等(deng)的能力不同(tong),直接影(ying)響咸蛋等的(de)加工時(shí)間。如(ru)薄殼蛋對(duì)食鹽(yan)滲透(tou)能力強(qiáng)(qiang),成熟期短(duan);反之,厚蛋(dan)殼對(duì)(dui)食鹽的(de)滲透(tou)能力差(cha),成熟(shu)期長(zhǎng)。蛋殼(ke)的孔隙數(shù)(shu)目越多,尺寸越(yue)大,對(duì)食鹽的(de)滲透能力(li)越強(qiáng)(qiang),蛋品(pin)的腌制(zhi)時(shí)間也越短(duan);反之(zhi),蛋殼孔隙數(shù)(shu)目越少,尺寸(cun)越小的蛋品(pin)腌制時(shí)間越長(zhǎng)(zhang)。有研究(jiu)表明,蛋(dan)殼的力學(xué)(xue)特性,如蛋殼(ke)的強(qiáng)(qiang)度、硬度等于蛋(dan)殼的超微(wei)孔隙結(jié)(jie)構(gòu)有直接關(guān)(guan)系,強(qiáng)(qiang)度高(gao)的蛋殼結(jié)構(gòu)緊(jin)密,孔隙尺(chi)寸較(jiao)??;強(qiáng)度低(di)的蛋殼結(jié)構(gòu)(gou)稀疏(shu),孔隙尺(chi)寸較大。因(yin)此,蛋殼(ke)的品質(zhì)(zhi)、滲透特性與(yu)蛋殼微觀(guan)結(jié)構(gòu)三者之間(jian)有著十分緊密(mi)的關(guān)系,對(duì)蛋殼(ke)力學(xué)特性的(de)研究(jiu)部件能為禽(qin)蛋等(deng)運(yùn)輸?shù)忍峁├?li)論依據(jù),還(hai)能對(duì)將來深(shen)入蛋(dan)殼的微觀(guan)結(jié)構(gòu)奠(dian)定基礎(chǔ)。
1 蛋樣品(pin)準(zhǔn)備
購買鴨蛋樣(yang)品若干,蛋(dan)重約60-80g。
2 儀器測(cè)(ce)定
(1)穿刺測(cè)試
儀器:Universal TA物性分析(xi)儀(質(zhì)構(gòu)儀)
探頭:P/2柱形探頭(tou)
配件:蛋托
? ?
? ? ?將處理好(hao)的鴨蛋樣(yang)品放于蛋托裝(zhuang)置上(shang),然后一起(qi)放于柱(zhu)形探頭(tou)的正下方進(jìn)(jin)行測(cè)定(ding),測(cè)定條件:
測(cè)試模(mo)式:穿刺
測(cè)試前(qian)速度(du):0.2mm/s
測(cè)試速度(du):0.2mm/s
測(cè)試后速度:0.2mm/s
觸發(fā)力(li):5g
目標(biāo)模式(shi):距離 3mm
(2)壓縮測(cè)試
儀器:Universal TA物性分析(xi)儀(質(zhì)構(gòu)儀(yi))
探頭:P/75壓盤探(tan)頭
?
? ? ?將處理好的(de)鴨蛋樣品放于(yu)蛋托(tuo)裝置上,然(ran)后一起放于壓(ya)盤探頭(tou)的正(zheng)下方進(jìn)行(xing)測(cè)定,測(cè)定(ding)條件(jian):
測(cè)試(shi)模式:壓縮(suo)
測(cè)試前速度(du):0.2mm/s
測(cè)試(shi)速度:0.2mm/s
測(cè)試后(hou)速度:0.2mm/s
觸發(fā)力:5g
目標(biāo)(biao)模式:形變(bian) 60%
3 測(cè)定結(jié)果
? ? ?可以測(cè)(ce)定蛋的(de)抗壓強(qiáng)度、破裂(lie)強(qiáng)度和穿(chuan)刺強(qiáng)度等指標(biāo)(biao)。