（1）餅干是(shi)什么樣的(de)餅干？有沒(méi)有脆(cui)性？

對(duì)于一些很(hen)厚又較軟(ruan)的餅干，有硬(ying)度，但是(shi)相對(duì)來(lái)說(shuō)脆性(xing)很小或者(zhe)沒(méi)有脆(cui)性。而很薄又(you)脆的(de)酥性餅干，相(xiang)對(duì)而(er)言才(cai)有硬度和脆性(xing)的說(shuō)法。

（2）測(cè)餅(bing)干的(de)硬度和脆性(xing)應(yīng)該選(xuan)用哪些配件(jian)？

通常應(yīng)(ying)該選用2mm的柱形(xing)探頭(tou)和帶(dai)孔的平臺(tái)，柱形(xing)探頭穿刺完樣(yang)品之后從平臺(tái)(tai)的孔中(zhong)穿出，保(bao)證樣品穿(chuan)刺*而不(bu)會(huì)對(duì)探頭有損(sun)壞。

（3）測(cè)試條件如何(he)選擇？ ? ?

測(cè)試(shi)前速度不(bu)宜太快，太快容(rong)易造成延(yan)遲啟動(dòng)分析(xi)，通常不超過(guò)3mm/s為(wei)宜；測(cè)試速度(du)以受力均勻(yun)、樣品與(yu)探頭充分受力(li)為宜，通常測(cè)(ce)試速度較(jiao)小，在0.5mm/s-2mm/s比較(jiao)合適(shi)；測(cè)試后(hou)速度主要和(he)粘性有關(guān)，如(ru)果不考慮樣(yang)品粘(zhan)性或(huo)者樣品沒(méi)有粘(zhan)性，測(cè)試后(hou)速度可以調(diào)(diao)快一點(diǎn)(dian)。目標(biāo)模式也就(jiu)是探頭(tou)壓到什么時(shí)候(hou)停止呢，建議(yi)采用距離模(mo)式，探頭測(cè)試移(yi)動(dòng)距離大于樣(yang)品的高(gao)度，從而保證(zheng)*穿刺樣品。

（4）餅干的(de)硬度和脆性如(ru)何定義(yi)呢？

這個(gè)(ge)是典(dian)型的(de)餅干曲線(xiàn)，波(bo)動(dòng)可能是(shi)由餅干的破裂(lie)或是餅(bing)干內(nèi)部(bu)有大的(de)內(nèi)含物而造成(cheng)。因此，一(yi)般將(jiang)曲線(xiàn)內(nèi)的zui高(gao)峰定義為(wei)餅干的硬度(du)，線(xiàn)性距離定義(yi)為餅(bing)干的酥脆(cui)性，線(xiàn)性距離(li)越短，餅(bing)干的酥(su)脆性越好。