葡萄在(zai)貯運(yùn)過程(cheng)中由(you)于受到溫度(du)波動(dòng)和(he)機(jī)械振(zhen)動(dòng)作用，經(jīng)(jing)常出現(xiàn)大量(liang)損耗(hao)的問題。如何(he)解決貯(zhu)運(yùn)過程中(zhong)葡萄的損(sun)耗問(wen)題是當(dāng)下重要(yao)的研究課(ke)題之一。

通過用(yong)質(zhì)構(gòu)儀對(duì)貯運(yùn)(yun)過程中葡萄品(pin)質(zhì)的測(cè)定，以(yi)期為葡萄貯運(yùn)(yun)條件(jian)的設(shè)置提供(gong)一定(ding)的參考與依據(jù)(ju)。

1、穿刺測(cè)定

儀器(qi)：Universal TA質(zhì)構(gòu)(gou)儀

探頭：P/NP針型(xing)探頭

將葡萄(tao)顆粒置于(yu)針型(xing)探頭(tou)下進(jìn)行測(cè)試(shi)，每個(gè)品(pin)種取(qu)15個(gè)，后算平(ping)均值。測(cè)(ce)試條件(jian)設(shè)置如(ru)下

測(cè)試模式(shi)：穿刺(ci)

測(cè)試前速度：0.5mm/s

測(cè)試(shi)速度：0.5mm/s

測(cè)試后速(su)度：5mm/s

觸發(fā)(fa)力：5g

目標(biāo)模(mo)式：形變 ?50%

測(cè)定結(jié)果：可以用于(yu)測(cè)定(ding)葡萄表(biao)皮的穿刺強(qiáng)(qiang)度

2、全質(zhì)(zhi)構(gòu)TPA測(cè)定

儀器：Universal TA質(zhì)構(gòu)儀(yi)

探頭：P/50柱(zhu)型探(tan)頭

將葡萄顆(ke)粒置于柱型(xing)探頭下進(jìn)(jin)行測(cè)試(shi)，每個(gè)品種取15個(gè)(ge)，后算平均(jun)值。測(cè)試條(tiao)件設(shè)置(zhi)如下(xia)

測(cè)試模式：壓縮(suo)

測(cè)試前速度(du)：1mm/s

測(cè)試速(su)度：1mm/s

測(cè)試后速(su)度：5mm/s

觸發(fā)力(li)：8g

目標(biāo)模式(shi)：形變 30%

兩次下(xia)壓間隔(ge)時(shí)間：3s

測(cè)定結(jié)果(guo)：可以用于(yu)測(cè)定葡(pu)萄的硬(ying)度、彈性、回復(fù)(fu)性、內(nèi)聚性(xing)和咀嚼(jue)性等指標(biāo)(biao)。