（1）餅干是(shi)什么樣的餅干(gan)？有沒有脆(cui)性？

對于一(yi)些很厚又(you)較軟的餅(bing)干，有硬度，但(dan)是相對來(lai)說脆性(xing)很小或者沒有(you)脆性。而(er)很薄又(you)脆的酥性餅干(gan)，相對而言才(cai)有硬度(du)和脆性的說(shuo)法。

（2）測餅干的(de)硬度和脆(cui)性應(ying)該選用哪(na)些配件？

通常應該選(xuan)用2mm的柱形探(tan)頭和(he)帶孔的平臺，柱(zhu)形探頭穿刺(ci)完樣(yang)品之后從平臺(tai)的孔中(zhong)穿出，保證樣(yang)品穿(chuan)刺*而(er)不會(hui)對探頭有(you)損壞。

（3）測試(shi)條件(jian)如何選擇(ze)？ ? ?

測試前速度不(bu)宜太快，太快容(rong)易造成(cheng)延遲啟(qi)動分(fen)析，通(tong)常不超過3mm/s為(wei)宜；測試速度以(yi)受力均勻(yun)、樣品與探(tan)頭充分受力(li)為宜，通常(chang)測試速度較小(xiao)，在0.5mm/s-2mm/s比(bi)較合(he)適；測試后速度(du)主要和粘(zhan)性有關，如(ru)果不(bu)考慮樣品粘性(xing)或者(zhe)樣品沒有粘(zhan)性，測(ce)試后速(su)度可以(yi)調快一點。目(mu)標模式也就(jiu)是探頭壓到什(shen)么時候停(ting)止呢，建(jian)議采(cai)用距(ju)離模式，探頭(tou)測試移動(dong)距離大(da)于樣(yang)品的高(gao)度，從而保證(zheng)*穿刺(ci)樣品。

（4）餅干的硬度(du)和脆性如(ru)何定義呢(ne)？

這個是典型(xing)的餅干(gan)曲線，波(bo)動可能是由(you)餅干的(de)破裂(lie)或是(shi)餅干內部有(you)大的內(nei)含物而造(zao)成。因(yin)此，一般將曲(qu)線內的zui高峰(feng)定義為(wei)餅干的硬(ying)度，線性(xing)距離(li)定義(yi)為餅干的酥脆(cui)性，線性距(ju)離越短，餅干(gan)的酥脆性越(yue)好。