技術(shù)文章
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技術(shù)(shu)文章
質(zhì)構(gòu)儀測餅(bing)干的硬度和脆(cui)性需要關(guān)注幾(ji)個(gè)問(wen)題?
(1)餅干是(shi)什么樣的餅干(gan)?有沒(mei)有脆性?
對于一些很(hen)厚又較軟的餅(bing)干,有硬度,但(dan)是相對來(lai)說脆性很小(xiao)或者(zhe)沒有(you)脆性(xing)。而很薄又脆的(de)酥性餅干,相(xiang)對而言才(cai)有硬度和(he)脆性的說法(fa)。
(2)測餅(bing)干的硬度和脆(cui)性應(yīng)該選用(yong)哪些配(pei)件?
通常(chang)應(yīng)該選(xuan)用2mm的柱(zhu)形探頭和帶孔(kong)的平臺,柱形(xing)探頭穿刺完(wan)樣品(pin)之后從平臺的(de)孔中穿出,保證(zheng)樣品(pin)穿刺*而(er)不會(hui)對探頭(tou)有損壞(huai)。
(3)測試條件如(ru)何選擇? ? ?
測試前(qian)速度不宜太(tai)快,太快容(rong)易造成(cheng)延遲啟動(dòng)分析(xi),通常不超過3mm/s為(wei)宜;測試速度以(yi)受力(li)均勻、樣品(pin)與探頭充(chong)分受力(li)為宜,通常(chang)測試(shi)速度(du)較小,在0.5mm/s-2mm/s比(bi)較合適;測(ce)試后(hou)速度主(zhu)要和粘性有關(guān)(guan),如果不考慮樣(yang)品粘(zhan)性或者樣品(pin)沒有粘性,測(ce)試后速度可(ke)以調(diào)快一點(diǎn)(dian)。目標(biāo)模式也就(jiu)是探頭壓到(dao)什么(me)時(shí)候停(ting)止呢,建議采(cai)用距離模式(shi),探頭測試移動(dòng)(dong)距離大于(yu)樣品的高(gao)度,從而保(bao)證*穿刺樣(yang)品。
(4)餅干的硬(ying)度和脆性如(ru)何定義(yi)呢?
這個(gè)(ge)是典型的餅干(gan)曲線,波動(dòng)可能(neng)是由(you)餅干的破裂(lie)或是餅干(gan)內(nèi)部(bu)有大的內(nèi)含物(wu)而造成(cheng)。因此,一般(ban)將曲線內(nèi)(nei)的zui高(gao)峰定義(yi)為餅干的硬度(du),線性距離定(ding)義為(wei)餅干(gan)的酥脆性,線(xian)性距(ju)離越短,餅干(gan)的酥脆性越(yue)好。