（1）餅干是(shi)什么樣的餅干(gan)？有沒有(you)脆性？

對于一些很厚(hou)又較軟(ruan)的餅(bing)干，有硬度，但是(shi)相對來說脆性(xing)很小或(huo)者沒(mei)有脆性。而(er)很薄又脆的(de)酥性餅干，相(xiang)對而言才(cai)有硬度和(he)脆性的說法(fa)。

（2）測餅(bing)干的硬度和脆(cui)性應(yīng)(ying)該選用哪(na)些配件？

通常應(yīng)(ying)該選(xuan)用2mm的柱形探(tan)頭和帶孔的平(ping)臺，柱形(xing)探頭(tou)穿刺(ci)完樣品之后從(cong)平臺(tai)的孔中穿(chuan)出，保證樣品(pin)穿刺*而(er)不會(hui)對探頭有損壞(huai)。

（3）測試條件如(ru)何選擇？ ? ?

測試前(qian)速度不(bu)宜太快，太快容(rong)易造成延(yan)遲啟動分析(xi)，通常不(bu)超過3mm/s為(wei)宜；測試速度(du)以受力均(jun)勻、樣品與探頭(tou)充分(fen)受力為宜(yi)，通常測試速(su)度較小，在0.5mm/s-2mm/s比(bi)較合適；測試(shi)后速(su)度主(zhu)要和粘性有關(guān)(guan)，如果不考(kao)慮樣品粘(zhan)性或者樣品沒(mei)有粘(zhan)性，測(ce)試后速度可(ke)以調(diào)(diao)快一點。目標(biao)模式(shi)也就是(shi)探頭壓到(dao)什么時候停(ting)止呢，建議采用(yong)距離模式，探(tan)頭測試移動(dong)距離大于(yu)樣品的高(gao)度，從而(er)保證*穿(chuan)刺樣品。

（4）餅干(gan)的硬度和(he)脆性如何定(ding)義呢？

這個(ge)是典型的餅干(gan)曲線(xian)，波動可能是(shi)由餅干的破裂(lie)或是(shi)餅干內(nèi)部有大(da)的內(nèi)(nei)含物而(er)造成。因此(ci)，一般將曲(qu)線內(nèi)的zui高峰定(ding)義為(wei)餅干的硬度，線(xian)性距(ju)離定義為(wei)餅干的酥脆(cui)性，線性距(ju)離越短(duan)，餅干的酥(su)脆性越好。