技術文章
Technical articles(1)餅干是什么樣(yang)的餅干(gan)?有沒有脆(cui)性?
對于一些很厚(hou)又較軟的餅(bing)干,有硬度,但(dan)是相對來說(shuo)脆性很(hen)小或(huo)者沒有脆性。而(er)很薄又(you)脆的酥性(xing)餅干,相對而(er)言才有硬度和(he)脆性的說法(fa)。
(2)測餅干(gan)的硬度和(he)脆性應該(gai)選用(yong)哪些配(pei)件?
通常應(ying)該選用2mm的(de)柱形(xing)探頭和帶(dai)孔的(de)平臺(tai),柱形探頭穿刺(ci)完樣品之后從(cong)平臺的(de)孔中穿出,保證(zheng)樣品穿刺(ci)*而不會(hui)對探頭(tou)有損壞(huai)。
(3)測試條件如(ru)何選擇? ? ?
測試前速度(du)不宜太快,太快(kuai)容易造成(cheng)延遲啟動分(fen)析,通常不超過(guo)3mm/s為宜(yi);測試速度以受(shou)力均(jun)勻、樣(yang)品與探頭充(chong)分受力(li)為宜,通常(chang)測試速度較小(xiao),在0.5mm/s-2mm/s比較合適;測(ce)試后速度主要(yao)和粘性有(you)關,如(ru)果不考慮(lv)樣品粘性(xing)或者(zhe)樣品沒有粘(zhan)性,測(ce)試后速度(du)可以調快一(yi)點。目(mu)標模式也就是(shi)探頭壓到(dao)什么時候停止(zhi)呢,建議采用距(ju)離模式,探頭測(ce)試移動距(ju)離大于樣品的(de)高度,從而保(bao)證*穿(chuan)刺樣品(pin)。
(4)餅干的硬(ying)度和脆性如(ru)何定義呢?
這個是典型(xing)的餅干(gan)曲線(xian),波動(dong)可能是由餅(bing)干的破裂(lie)或是餅干(gan)內部有大(da)的內(nei)含物(wu)而造成。因此(ci),一般(ban)將曲線內的zui高(gao)峰定義為(wei)餅干的硬度(du),線性距(ju)離定(ding)義為餅(bing)干的酥(su)脆性,線性距(ju)離越短,餅(bing)干的酥(su)脆性越好。