（1）餅干是什(shen)么樣的餅干(gan)？有沒有(you)脆性？

對于一些(xie)很厚又較(jiao)軟的(de)餅干，有硬度，但(dan)是相(xiang)對來說(shuo)脆性很(hen)小或者沒有(you)脆性。而很薄(bao)又脆的酥(su)性餅干，相(xiang)對而(er)言才有硬(ying)度和(he)脆性(xing)的說法(fa)。

（2）測餅干的硬(ying)度和脆性(xing)應(yīng)該選(xuan)用哪(na)些配件？

通常應(yīng)該選(xuan)用2mm的(de)柱形(xing)探頭和帶孔(kong)的平臺(tai)，柱形(xing)探頭穿(chuan)刺完(wan)樣品之后從(cong)平臺的(de)孔中穿出，保證(zheng)樣品穿(chuan)刺*而不會(hui)對探頭有(you)損壞。

（3）測試條件如(ru)何選擇？ ? ?

測試前速度不(bu)宜太快(kuai)，太快容易造成(cheng)延遲啟動(dong)分析，通常不(bu)超過3mm/s為宜；測試(shi)速度(du)以受力(li)均勻、樣(yang)品與探頭(tou)充分受力為宜(yi)，通常測試速度(du)較小，在0.5mm/s-2mm/s比較(jiao)合適；測試后速(su)度主要(yao)和粘性有關(guān)(guan)，如果不考慮(lv)樣品粘(zhan)性或者樣品沒(mei)有粘性(xing)，測試后(hou)速度(du)可以(yi)調(diào)快一點。目(mu)標(biāo)模式(shi)也就(jiu)是探頭壓到(dao)什么時候停止(zhi)呢，建(jian)議采(cai)用距離模式(shi)，探頭測試(shi)移動距離(li)大于(yu)樣品(pin)的高度，從而(er)保證*穿(chuan)刺樣品。

（4）餅干的(de)硬度(du)和脆性如(ru)何定義呢(ne)？

這個是(shi)典型的餅干曲(qu)線，波動(dong)可能是由(you)餅干的破裂(lie)或是餅(bing)干內(nèi)部有大的(de)內(nèi)含(han)物而造成。因此(ci)，一般(ban)將曲線內(nèi)的zui高(gao)峰定義為餅干(gan)的硬度，線性(xing)距離(li)定義為餅(bing)干的酥脆(cui)性，線(xian)性距離越(yue)短，餅干的(de)酥脆性越好(hao)。