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技術文章(zhang)
質構儀(yi)測餅干的硬度(du)和脆性(xing)需要關注(zhu)幾個問題(ti)?
(1)餅干是什么樣(yang)的餅(bing)干?有沒(mei)有脆性?
對于一些(xie)很厚又(you)較軟(ruan)的餅(bing)干,有硬度(du),但是相對來說(shuo)脆性很小(xiao)或者沒有(you)脆性。而很薄(bao)又脆的酥性(xing)餅干,相對而言(yan)才有硬度和(he)脆性的說法(fa)。
(2)測餅干的硬度(du)和脆性(xing)應該選用哪些(xie)配件?
通常(chang)應該選(xuan)用2mm的柱形(xing)探頭和(he)帶孔(kong)的平臺,柱形探(tan)頭穿刺完樣(yang)品之后從平(ping)臺的孔中穿出(chu),保證(zheng)樣品(pin)穿刺*而(er)不會對探頭(tou)有損壞(huai)。
(3)測試條件如(ru)何選擇? ? ?
測試(shi)前速(su)度不宜(yi)太快,太(tai)快容易造成延(yan)遲啟(qi)動分析,通(tong)常不超過3mm/s為宜(yi);測試速度以(yi)受力均(jun)勻、樣品與探(tan)頭充分(fen)受力為宜,通常(chang)測試速(su)度較小(xiao),在0.5mm/s-2mm/s比(bi)較合適;測試(shi)后速度(du)主要和粘性有(you)關,如果不(bu)考慮樣品粘(zhan)性或者樣品(pin)沒有粘性,測試(shi)后速度(du)可以調快一(yi)點。目標模(mo)式也就是(shi)探頭壓到(dao)什么(me)時候停止(zhi)呢,建議采(cai)用距(ju)離模式,探頭(tou)測試(shi)移動距離大于(yu)樣品的高度(du),從而(er)保證*穿刺樣品(pin)。
(4)餅干的(de)硬度和脆性如(ru)何定義呢(ne)?
這個是(shi)典型(xing)的餅干曲線,波(bo)動可(ke)能是由餅(bing)干的破裂或(huo)是餅(bing)干內部(bu)有大的內含物(wu)而造成。因此,一(yi)般將曲線(xian)內的zui高(gao)峰定義為餅干(gan)的硬度(du),線性距離定義(yi)為餅(bing)干的(de)酥脆性(xing),線性距(ju)離越(yue)短,餅干(gan)的酥脆性越(yue)好。