（1）餅干是什么(me)樣的餅干？有沒(mei)有脆性？

對(duì)于一些(xie)很厚又較軟的(de)餅干，有硬度(du)，但是(shi)相對(duì)來說脆(cui)性很小或者沒(mei)有脆性。而很薄(bao)又脆的酥性餅(bing)干，相對(duì)而言(yan)才有硬度和(he)脆性的說法(fa)。

（2）測(cè)餅干的(de)硬度(du)和脆性應(yīng)該(gai)選用哪些配件(jian)？

通常(chang)應(yīng)該選用(yong)2mm的柱形探頭和(he)帶孔的平(ping)臺(tái)，柱形探頭(tou)穿刺完樣品(pin)之后從平(ping)臺(tái)的(de)孔中(zhong)穿出，保證樣品(pin)穿刺*而不(bu)會(huì)對(duì)(dui)探頭有損壞(huai)。

（3）測(cè)試(shi)條件如(ru)何選擇(ze)？ ? ?

測(cè)試前速度(du)不宜太快(kuai)，太快(kuai)容易造成延(yan)遲啟動(dòng)(dong)分析，通常(chang)不超(chao)過3mm/s為宜；測(cè)(ce)試速度以受(shou)力均勻(yun)、樣品與探(tan)頭充分受力為(wei)宜，通常測(cè)試速(su)度較小，在0.5mm/s-2mm/s比較(jiao)合適；測(cè)試后(hou)速度主要和粘(zhan)性有(you)關(guān)，如(ru)果不(bu)考慮樣(yang)品粘性(xing)或者樣品(pin)沒有粘性，測(cè)(ce)試后(hou)速度(du)可以調(diào)(diao)快一點(diǎn)。目標(biāo)模(mo)式也就(jiu)是探頭壓到什(shen)么時(shí)候停(ting)止呢，建議(yi)采用距離模式(shi)，探頭測(cè)試(shi)移動(dòng)距離(li)大于(yu)樣品的高度(du)，從而保證(zheng)*穿刺樣品。

（4）餅干的硬度(du)和脆性(xing)如何定義呢(ne)？

這個(gè)是典型(xing)的餅干曲線(xian)，波動(dòng)可(ke)能是由餅干的(de)破裂或是餅(bing)干內(nèi)部有(you)大的內(nèi)含物而(er)造成(cheng)。因此，一(yi)般將曲線內(nèi)(nei)的zui高峰定(ding)義為餅干的硬(ying)度，線(xian)性距離定義為(wei)餅干的酥脆(cui)性，線(xian)性距離(li)越短，餅(bing)干的酥(su)脆性越好(hao)。