（1）餅干是什(shen)么樣(yang)的餅干？有(you)沒有脆(cui)性？

對于一些很(hen)厚又較軟(ruan)的餅干，有(you)硬度(du)，但是相對來(lai)說脆性(xing)很小或(huo)者沒(mei)有脆性。而很(hen)薄又脆的(de)酥性餅干，相對(dui)而言才有硬度(du)和脆(cui)性的說法。

（2）測餅干(gan)的硬(ying)度和脆(cui)性應(yīng)該選(xuan)用哪些配件？

通常應(yīng)該選(xuan)用2mm的(de)柱形探頭(tou)和帶孔的平(ping)臺，柱形探頭(tou)穿刺完樣(yang)品之后(hou)從平臺的孔(kong)中穿出，保(bao)證樣品穿(chuan)刺*而(er)不會對(dui)探頭有(you)損壞。

（3）測試條件如何(he)選擇(ze)？ ? ?

測試前(qian)速度不宜(yi)太快，太(tai)快容易造(zao)成延(yan)遲啟動(dòng)分析(xi)，通常不超(chao)過3mm/s為宜；測試(shi)速度以受力(li)均勻、樣(yang)品與探頭充(chong)分受力為(wei)宜，通常測(ce)試速(su)度較(jiao)小，在0.5mm/s-2mm/s比(bi)較合適(shi)；測試后(hou)速度(du)主要(yao)和粘性有關(guān)(guan)，如果不考(kao)慮樣品粘性或(huo)者樣(yang)品沒有(you)粘性，測試后(hou)速度可以調(diào)快(kuai)一點(diǎn)。目(mu)標(biāo)模式也就是(shi)探頭壓到什(shen)么時(shí)候(hou)停止呢，建議(yi)采用距離模式(shi)，探頭測試移(yi)動(dòng)距離大于(yu)樣品的高(gao)度，從而保(bao)證*穿刺樣品。

（4）餅干的(de)硬度和脆性如(ru)何定義呢？

這個(gè)是典(dian)型的餅干曲線(xian)，波動(dòng)可能是由(you)餅干的(de)破裂或是餅干(gan)內(nèi)部有大的內(nèi)(nei)含物(wu)而造成。因此(ci)，一般將曲線(xian)內(nèi)的(de)zui高峰(feng)定義為餅(bing)干的硬(ying)度，線性距(ju)離定義為餅干(gan)的酥脆性(xing)，線性距離越(yue)短，餅干的酥脆(cui)性越好。